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微电子技术论文7539403.pdfVIP

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  • 2026-04-17 发布于浙江
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微电子技术论文7539403.pdf

    IEEETRANSACTIONSONNUCLEARSCIENCE,VOL.63,NO.5,OCTOBER20162709

    SimulationStudyofSingle-EventBurnout

    inPowerTrenchACCUFETs

    Cheng-HaoYu,YingWang,Xin-XingFei,andFeiCao

    Abstract—Thispaperpresents2-DnumericalsimulationstudieshavebeencarriedouttoprotectagainstSEB[10]–[18].

    resultsofsingle-eventburnout(SEB)inpowertrenchaccumu-So

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