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dToF相机传感器封测知识CPFT test basics.pdfVIP

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  • 2026-04-23 发布于浙江
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dToF相机传感器封测知识CPFT test basics.pdf

    CPFTbasics

    唐佳捷2021-04-30

    outline

    ▪What’sCPFT

    ▪WhyCPFTneeded

    ▪Whichitems

    ▪HowtodoCPFT

    ▪Swiftcase

    ▪QA

    Confidential,DONOTDistribute3/20/20252

    What’sCPFT

    ▪CP：ChipProbe/Probing

    ▪在未进行划片封装的整片wafer上，通过探针卡（probecard）对裸die进行功能及性能测

    试，即为CP测试；目的是把坏的die挑出来，故CP又称wafersort。

    ▪要点：waferlevel，die，probe

    ▪提问：whyneedprobeandcalledCP？

    WaferCPATEProbeCard

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