CN119846421A 一种碳化硅器件测试方法、系统及存储介质 (杭州高坤电子科技有限公司).pdfVIP

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  • 2026-05-24 发布于重庆
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CN119846421A 一种碳化硅器件测试方法、系统及存储介质 (杭州高坤电子科技有限公司).pdf

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119846421A

(43)申请公布日2025.04.18

(21)申请号202510329530.9

(22)申请日2025.03.20

(71)申请人杭州高坤电子科技有限公司

地址311122浙江省杭州市余杭区闲林街

道裕丰路7号5号楼4层

(72)发明人胡久恒孙浩

(74)专利代理机构北京维正专利代理有限公司

11508

专利代理师王婉芬

(51)Int.Cl.

G01R31/26(2020.01)

权利要求书2页说明书8页附图4页

(54)发明名称

一种碳化硅器件测试方法、系统及存储介质

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