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扫描微波显微镜导纳校准测量规范指南 Good practice guide for calibrated admittance measurements using scanning microwave microscopy (SMM).docx

扫描微波显微镜导纳校准测量规范指南 Good practice guide for calibrated admittance measurements using scanning microwave microscopy (SMM).docx

    20IND12Elena–DeliverableD7

    1

    Goodpracticeguideforcalibratedadmittancemeasurementsusing

    scanningmicrowavemicroscopy

    Abstract

    Themeasurementofelectricalpropertiesatthenanoscaleallowsevaluatingtheperformanceofnanomaterialsdevelopedforconsumerelectronics,innova

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