毕业论文：处理镁渣的X射线能谱分析（终稿）.doc

目录 英汉缩略语名词对照................................... 中文摘要........................................................................................... 英文摘要................................................................................ 论文正文：处理镁渣的X射线能谱分析 ........................................... 第一章 前 言.................................................................................. 1.1大力发展镁资源的忧患 1.2变废为宝的必要 1.3分析方法的选择 1.4 X射线能谱分析 镁镁合金因其优异的性能已成为现代汽车、电子、通信等行业的首选材料，被人们誉为“21世纪的绿色工材料程”。20世纪90年代以来，工业发达国家高度重视镁合金的研究与开发，美国、日本、德国、澳大利亚等国相继出台了各自的镁研究计划，把镁原料作为21世纪的重要战略物资，加强了镁合金在汽车、计算机、通讯及航空航天领域的应用开发研究。国是镁资源大国很多优质炼镁原料在中国的储量十分丰富。近年来，随着冶炼镁行业的迅速发展，中国已成为世界上生产、出口大国。我国在镁合金应用领域的开拓严重滞后及镁深加工能力的不足，还是以生产原镁为主，其中95%的原镁是采用皮江法生产皮江法不仅，而且会造成严重的环境污染。每生产1 t粗镁，会产生6～10 t的镁渣镁渣粉尘物，直径小于150μm的颗粒悬浮在空气中很难沉降极易形成粉尘污染，吸入呼吸道，会造成呼吸道疾病镁渣具有很强的吸潮性，易使土壤盐碱化，造成土壤板结，堆积过镁渣的土地及其周边基本无法用于农业耕种 在传统金属资源趋于枯竭的今天，处理与利用镁渣，开发镁材料。 因此如何有效地处理、镁渣达到节约能源、变废为宝和变害为利的目的是当前迫切需要解决的问题人们看到镁渣作为固体废弃物的一面，它的价值镁渣中含有40％～50％的CaO；20％～30％的SiO2；2％～5％的Al2O3以及少量的氧化铁，这些成分都可以为我们所用。资源化地利用镁渣中有用元素，将其害为利具有良好的经济效益和环境效益X射线能谱分析 扫描电子显微镜的电子枪发射的高速运动电子束入射样品后:①穿过样品,形成透射电子;②被吸收而成为吸收电子;③被反射出来,称为二次电子;④成为背散射电子、俄歇电子;⑤与样品作用产生特征X射线. 根据原子物理学,原子中电子层上的电子在电子层(K,L,M和N...)间发生能级跃迁时能产生出谱线.X射线特征谱是由具有不同波长或能量的谱线构成,谱线的波长或能量取决于元素.在一定的能量范围内,每一元素出现的谱线是各元素所特有的.根据谱线及其所在的能量范围就可以识别不同元素.EDX分析就是利用特征X射线完成的. EDX系由Si(Li)半导体检测器、放大器、多道脉冲高度分析器、数据处理以及一些外围设备组合而成的。Si(Li)检测器实质上就是一个换能器，它可将入射X射线光子的能量等量地转换给电子一空穴对。在半导体Si中每产生一个电子一空穴对的能量大约是3.sev。一个入射光子激发电子一空穴对的数目是与光子能量成正比的，这种载流子(电子一空穴对)在外电场作用下定向运动就形成了脉冲电流，经放大后即可送入多道脉冲分析器进行幅度分析，并按幅度进行分类贮存。对所有光子都完成同样的处理，则得到一条光子数目(即强度)随能量分布的曲线，即X射线能量色散谱 EDX的定性和定量分析方法和波长分光谱仪是完全类似的。在与电子光学仪器相组合时，可以按电子束相对于样品的运动方式分为点分析、线分析和面分析。 点分析是最基本的分析方式。对于块状样品，分析区域大约是琢m3;对于薄膜样品，由于X射线激发区仅取决于电子束直径和样品厚度，所以分析区域可进一步缩小。由固定点得到的能谱除了从峰位鉴别元素外，还可以由峰强对元素进行定量。EDS的定量分析方法与电子探针晶体分光谱仪法完全类似，主要有经验公式法、ZAF法、蒙特一卡罗法等等;另外，由于能谱检测时对所有谱线都是同时进行的，不会因探针电流不稳定而导致谱线间相对强度的变化，因而发展了一种无标样定量方法，虽然它的定量精度不如ZAF方法那样好，但仍能满足一般的分析要求。点分析方式被广泛地用来确定微小区域(基体、析出相、夹杂、界面等)的元素组成及其含量。 线分析方式是使电子束相对于样品作单方向移动，并给出元素浓度随位移的变化曲