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高速SI测量方法2
1前言2
2SFI2
2.1SFI标2
2.2电气特性2
2.3测试仪器5
2.4测试方法5
2.4.1搭建测试环境5
2.4.2启动DUT7
2.4.3选择BCM#模式7
2.4.4发送PRBS码7
2.4.5调节预加重参数7
2.4.6调节预加重驱动8
2.4.7保存结果9
2.5测试命令9
2.6测试结果9
3XFI10
3.1XFI标10
3.2电气特性10
3.3测量仪器12
3.4测试方法13
3.4.1测试环境搭建13
3.4.2启动DUT15
3.4.3选择BCM#模式15
3.4.4发送PRBS码15
3.4.5调节预加重参数15
3.4.6保存测试结果16
3.5测试命令16
3.5.1MAC_TXTEST16
3.5.2PHY_TXTEST16
3.6.测试结果16
4KR18
4.1测试方法20
4.2测试命令20
4.3测试结果21
5.总结24
5.1测试注意事项24
5.2眼图测试总结25
高速SI测量方法
1前言
在速率达到10Gbps高速设计中，尽管我们在电路设计上按照标准设计，但在信号的传输过
程仍不可避免会受到串扰等的影响，由此我们需要去做信号完整性分析，以验证我们设计的正
确性，而眼图是一种可对数字信号传输作定性分析的有效手段。以下所介绍就是关于10G信号接
口SFI、XFI、KR的SI测量方法。
2SFI
2.1SFI标准
SFF-8431定义了SFI的电气特性及测试方法。
2.2电气特性
在SFF-8431中SFI被定义了以下三种模型
①HostSystem
Figure1HostComplianceBoard
②ASIC/SerDes
Figure2ASIC/SerDesTestBoard
③Module
Figure3ModuleComplianceBoard
以上三种模型对应的定义了如下测试点：
Figure4SFIReferencePoints
而在我们的设计应用中，我们需要验证IC的transmitte和receive的信号经过SFP+Module
connector后的信号质量.而ASIC/SerDes和Module模型分别定义对ASIC和Module本身的
电气特性，并未考虑信号经过connector的情况，与我们的实际应用不符。所以我们设计模
型为HostSystem.测试点为B点和C点，但因目前尚没有设备从外部输入信号，C点暂无法测试，
以B点作为测试参考点。以下是B点和C点的定义：
B点：HostoutputattheoutputoftheHostComplianceBoard.
C点：HostinputattheinputoftheHostComplianceBoard.
所以我们对SFI眼图的测量结果必须符合以下的spec要求：
Figure5SFP+HostTransmitterOutpu
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