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新生儿低血糖脑损伤
(hypoglycemicbraindamage,HBD)
Ø导致脑瘫或神经发育致残的主要脑损伤因素:缺
血缺氧、高胆红素血症、低血糖等。
Ø新生儿低血糖虽然是新生儿期最常见的代谢性疾
病,但由于临床症状常不典型,多为其他疾病的
合并症,常被原发病所掩盖,在临床工作中尚未
引起医务人员足够的重视。
Ø目前公认大部分健康新生儿早期出现暂时性低血
糖一般不会引起严重脑损伤,而持续或反复低血
糖却有可能导致脑损伤,遗留认知障碍、视觉障
碍、枕叶癫痫、脑瘫等神经系统后遗症。
Ø高危因素:
早产儿、低出生体质量儿、巨大儿、小于胎
龄儿、双胎、孕母高危年龄、孕母糖尿病、孕母
高血压等。
Ø病理:
大脑皮层的神经细胞软化、肿胀、坏死,脑
回萎缩、白质脱髓鞘,一般不伴有出血,常发生
于顶枕叶,一般不累及小脑和脑干。
临床表现
Ø可无症状,也可表现为精神萎靡、嗜睡、喂养困
难、肌张力低下、抽搐等,无特异性。
Ø严重低血糖新生儿会遗留神经系统后遗症,包括智
力运动发育落后、视听障碍、脑瘫、癫痫等。
Ø后遗症出现与否及严重程度,取决于新生儿低血糖
的程度、持续时间,以及并存的其他疾病和治疗情
况。
影像表现
Ø超声:低血糖性脑损伤急性期B超表现为损伤部位
的高回声,随着病情好转,高回声会慢慢恢复。严
重病例后期可表现为损伤部位的低回声。敏感度
不及MRI。
ØCT:分辨率有限,而且有辐射损伤,不作为新生
儿脑损伤的主要检查手段。
ØMRI:可准确、敏感、无创地反应脑损伤部位、
性质、范围及组织学基础,是评价新生儿脑损伤
最佳影像学检查方法。
MRI表现特点
Ø双侧顶枕叶皮层可见对称性T1低、T2高信号区;
MRI表现特点
Ø双侧顶枕叶皮层可见对称性T1低、T2高信号区;
Ø严重者可见弥漫性皮层受累,甚至累及基底节、丘
脑和皮层下白质(后者可能与低血糖所致昏迷与呼
吸衰竭有关,皮层损伤主要与低血糖有关);
MRI表现特点
Ø双侧顶枕叶皮层可见对称性T1低、T2高信号区;
Ø严重者可见弥漫性皮层受累,甚至累及基底节、
丘脑和皮层下白质(后者可能与低血糖所致昏迷
与呼吸衰竭有关,皮层损伤主要与低血糖有关)。
ØHBD早期时DWI表现为明显高信号,ADC图为低
信号(此时T1、T2钧改变不明显),提示细胞性
水肿是早期低血糖脑损伤时重要改变。晚期DWI
呈低信号,ADC图为高信号提示局部脑软化。
顶枕叶皮层易损的机制可能与以下因素有关:
Ø枕叶的视觉皮层的4层明显增厚,有较多的神经元
和突触,并且轴突和突触形成增加。
Ø新生儿大脑的发育有先后顺序,其中控制视觉和运
动的顶枕叶最先发育,负责抽象思维的区域远远落
后。
诊断要点
Ø有HBD高危因素;
Ø双侧顶枕叶,主要累及脑皮质,呈对称性
发生(有一定特征性);
Ø早期DWI有诊断意义,呈高信号,慢性期
主要表现为脑皮质萎缩,脑软化。
鉴别诊断
缺血缺氧性脑损伤:
Ø常有围生期窒息史;
Ø好发部位:
足月儿:大脑矢状旁区脑组织;
早产儿:脑室周围白质区。
Ø常伴有脑出血,可累及小脑和脑干。
早产儿缺血缺
氧性脑损伤
足月儿缺血
缺氧性脑病
谢谢!
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