80c31单片机电路总剂量效应研究.pdf

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2017-09-30 发布于河北
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第卷第期微电子学 " (# ’ SCG+(# T ’ 年月 !""# &! !"#$%&’&#($%)"#* .9F+!""# """""""""""""""""""""""""""""""""""""""""""""""""" 文章编号! # $ &""%$((’#!""#"’$"#,%$"( 单片机电路总剂量效应研究 N":!O ! ! ! & ! & & & ! & ! 匡治兵 !郭旗 !任迪远 !李爱武 !汪东 ! ! ! 中国科学院新疆理化技术研究所"新疆乌鲁木齐 # 中国科学院研究生院"北京 $ &+ ,(""&& !+ &"""() ! ! ! 摘要! 研究了单片机电路在’" 辐照环境中的响应特性及参数变化规律!通过对辐照 ,"U(& UC ! ! ’ 后其电离辐照敏感参数在室温和 &""c高温条件下随时间变化关系的分析!讨论了电路总剂量辐射损伤的机理" ’" 关键词! 单片机# UC 辐照#辐射损伤#退火 ! ’ 中图分类号! # 文献标识码! 45(,’+&45("* / ! ! ! &,-,12=’;8’;+,;,’+3+’87H+=2BDD2<’=+,&":!$#;<0+<+,’0+7720 C " " " & ! & & & ! & ! " " " " eY/5; aA8$[8? ;YW ‘8 ^-5 .8$D=? RX/8$OD :/5; .C? @ H @ ! " " " " # &+?0’U%"%6" ?’-0"%-6,!"#$%$&$’( 90 #%-#6"8;0’@%#$. ?0’;0%"’#’>-68’@ ( /-%’"-’# 2.&@ % U%"%6" ,(""&& 9+:+;0%"6 F 7