生产井技术培训材料（终极）.docVIP

生产井技术培训材料 一 生产测井是指在套管井中完成的各类测井，包括注采井动态监测、工程测井及储层评价测井。目的是监测注采动态、井眼的几何特性及储层的剩余油饱和度等，为油田科学开发提供动态的理论依据。 生产测井的分类： 注入剖面测井资料解释与应用 注入剖面测井包括注水剖面测井和注聚剖面测井。注水剖面测井又分同位素示踪测井、井温法测井、多参数组合测井、电磁流量测井、超声波流量测井、氧活化水流测井；注聚剖面测井包括：电磁流量测井、超声波流量测井、氧活化水流测井。 同位素示踪测井 同位素示踪测井是利用人工放射性同位素作为示踪剂研究和观察油井技术状况和采油注水动态的测井方法。用固相载体吸附放射性同位素的离子，与水配成活化悬浮液。示踪剂随流体注入地层且滤积在地层表面，测量滤积在地层表面的示踪剂强度可以定量分析各吸水层吸水强度。 1．同位素示踪载体法测量注水剖面的测井方法是：首先测量一条自然伽马基线，然后在正常注水条件下，将同位素示踪载体（131Ba－GTP微球）注入井内，注入井内的同位素示踪载体到达并吸附在各吸水层后，测两到三条同位素示踪曲线，同位素示踪载体法测注水剖面的测井实例。 同位素示踪载体法测注水剖面测井实例 同位素示踪测井的适用条件很广，它适用于井下各种类型管柱的注水井。 2．资料解释： 示踪注水剖面测井资料的解释 注水层位的划分 划分注水层位的方法是在对应射孔层段的叠合曲线涂上，示踪注水剖面测井曲线有异常的部位划分为注水层。凡是同位素曲线异常幅度超过你眼睛短起伏1.5倍的层位都要计算吸水面积。 在未射孔井段，正对渗透层示踪曲线出现的幅度异常要注意区分是示踪剂沾污还是注水窜槽引起。 注水层的顶底界以示踪曲线的半幅点划分，薄层应作厚度校正。 注水层示踪曲线异常面积包含两个或两个以上的层位时，且层位差异大时要确定分层线。 同一个层内，尤其是厚度大的注水层，层内注水差异较大时应细分层，应分级解释相对吸水量。 参数的收集与选取 同位素示踪测井解释需要先进行现场数据的收集包括油压、套压、日注水量、管柱结构、该井目前生产情况等等，为解释工作顺利进行做好准备。 在现场施工中，由于井下注水管柱的结垢、腐蚀以及示踪载体的沉淀等原因，在接箍、偏心配水器、封隔器以及不同阶段的油管、套管壁上存在放射性同位素的沾污。引起测井曲线的异常变化。这些异常变化的存在并不反映该地层吸水，却给测井资料解释带来了困难，并且直接影响测井资料解释的准确性和精度，甚至会得到与井下实际注水情况完全相反的解释结论。 按照同位素微球在井筒中沾污位置与严重程度进行分类，沾污包括：接箍沾污、偏心配水器沾污、封隔器沾污、管壁沾污（包括油管内壁沾污、油管外壁沾污、套管内壁沾污、油管外壁+套管内壁沾污、油管内壁+油管外壁+套管内壁沾污）等。 a.接箍沾污 同位素曲线在测量井段多处油管或套管接箍部位存在尖刀状沾污显示；此尖刀状沾污曲线若在吸水层位内，此时应作曲线校正。校正系数为0.13。 b.偏心配水器沾污 同位素曲线上反映为：在对应的偏心配水器上边界为一尖峰状沾污显示；校正时应扣除层位内尖峰沾污面积作曲线校正。校正系数为0.13。 c.封隔器沾污 属于同位素沉淀在封隔器上造成的，沾污曲线的形状和接箍沾污形状类似，校正系数为0.13。 d.管壁沾污 油管内壁沾污 在测量井段内，若最上一个层位以上的同位素示踪曲线高于自然伽马曲线基线，或层间的同位素示踪曲线沾污幅度和最上一个油层以上的幅度相同，这种沾污判断为油管内壁沾污，校正系数为0.07。 油管外壁沾污 如果最上一个层以上同位素示踪曲线与自然伽马曲线叠合后，下部曲线层间的沾污幅度在1cm左右，可判断为油管外壁沾污，校正系数为0.13。 套管内壁沾污 套管内壁腐蚀壁油管严重，同位素曲线上大段且幅度较高的严重沾污，往往是套管内壁腐蚀引起的吸附沾污，校正系数为0.32。 油管外壁+套管内壁沾污 指最上一个油层以上的同位素曲线与自然伽马基线叠合，而层间的同位素曲线幅度升高，此种沾污又不易分清是油管外壁沾污还是套管内壁沾污，此种情况下判断位油管外壁+套管内壁沾污，校正系数为0.22。 油管内壁+油管外壁+套管内壁沾污 最上一个油层以上的同位素曲线幅度高于自然伽马基线，而层间的同位素曲线幅度又高于最上一个油层以上的同位素曲线幅度，这时又分不清是油管内壁沾污或油管外壁沾污或套管内壁沾污，综合全井段，把这种层间沾污判断为油管内壁+油管外壁+套管内壁沾污。沾污校正系数为0.17。 （2）．同位素示踪载体测井解释模型建立 由于Q △J/△I，即进入地层的水量Q与滤积的放射性活度△J成正比，测井曲线上反映即是吸水量与吸水层上的同位素伽马曲线与自然伽马曲线的包络面积成正比。图2-1所示： 图2-1 放射性同位素示踪