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X射线衍射方法分析残余应力 万鑫 姜传海 上海交通大学, 材料科学与工程学院，上海，200240 摘 要: X射线衍射是测量材料残余应力的常用方法，具有无损性，选择性，准确性等优点。本文主要尝试利用Imura等人提出的单晶材料残余应力的测量方法来分析粗晶材料Fe-Si合金。试验结果表明，该方法可以用于此类材料残余应力的测定，成功测得试样拉伸不同程度后的应力状态；当晶面位置参数精度0.25°，衍射角精度0.01°时，计算的应力状态基本符合试样拉伸后的应力状态的理论值。 关键字X射线衍射，残余应力，Imura方法 中图分类号：TG115.22 文献标识码 Residual stress analysis of the coarse-grained materials Fe-Si alloy by X-ray diffraction WAN Xin ZHAN Ke JIANG Chuanhai (Shanghai Jiao Tong University, School of materials science and engineering, Shanghai 200240, China) Abstract: X-ray Diffraction (XRD) method is now commonly used for residual stresses analysis because of its non-destructive, selective and precise determination of deformations and stresses. In this paper, we analyzed the coarse-grained material Fe-Si alloy with residual stress measurement method for single crystal materials, which was proposed by Imura et al. The test results show that this method can be used for the determination of residual stress of such materials, with successfully measuring stress of the specimen after the tensile; when the accuracy of position parameters is 0.25 ° and the accuracy of diffraction angle is 0.01 °, the results are in line with the theoretical value of the tensile stress state. Key words: X-Ray diffraction, residual stress, Imura method 投稿日期：2013/05/02，修订日期：2013 作者简介：万鑫（1988），男，上海交通大学材料科学与工程学院硕士研究生。联系电话-mail: wanxin.sjtu@ 通信作者：姜传海（1963- ），男，上海交通大学材料科学与工程学院教授。联系电话：021E-mail: chjiang@ 残余应力是材料在机加工或者合金化过程中产生的平衡于材料内部的应力。实践证明，金属材料中残余应力的大小和分布对机械构件的静态强度、疲劳强度、奶腐蚀性和构件的尺寸稳定性等都有直接的影响。同时对检查焊接、表面强化处理（喷丸、渗氮、渗碳等）和热处理等的工艺效果，控制磨削等机加工的表面质量都有很大的实际意义。目前，有多种方法可以用来测量材料的残余应力，如机械拉伸仪法，小孔松弛法、光弹性法、中子衍射法、X射线衍射法等。其中，由于X射线衍射法具有无损、快速、精确等许多优点，该方法已经被广泛应用于各个方面[]。 残余应力按其作用范围不同可分为宏观残余应力（第类残余应力）和微观残余应力（第类残余应力和第类残余应力）。宏观残余应力是在晶体材料宏观尺度范围内保持平衡的一种内应力，微观残余应力是平衡在晶体材料内部几个晶粒之间甚至更小范围内的残余应力。实际上，在塑性变形的金属中，这两类应力通常是共存的。本文主要讨论宏观残余应力的测定。 目前用X射线测量大块单晶或多粗晶材料并不多见，相比于多晶材料残余应力的测量，由于单晶材料内部各向异性，所以对其的测量有较多难点