AgilentADS与仪表连接测试解决方案.pdfVIP

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  • 2017-09-15 发布于重庆
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Agilent ADS 与仪表连接测试解决方案 AEO 李建宇 陈菽莹 主要议题 问题提出的背景 ADS 连接仪表测试解决方案的概念 ADS 连接仪表测试解决方案典型应用 · 复杂信号产生 · 复杂信号参数分析 · 电路设计解决方案 · 实际单元电路对系统性能影响分析 · 电子系统中新技术使用效果的仿真分析 问题提出的背景 ① 软件仿真和仪表测试都是电子系统设计中的重要环节。如何提高仿真设计的准确性?如何找到全面评估 被测电路的有效测试方案?如何在产品开发中将仿真和测试更好的结合? ② 对整个电子系统性能进行科学的规划,如何全面分析数字电路和模拟射频电路的整体性能? ③ 对电子系统性能指标分配的不合理,造成单元电路实现和整个系统性能的冲突。 ④ 在电子系统中采用新技术,新单元电路对整体系统的影响?采用新技术带来的技术风险? ⑤ 专用的电子系统,没有现成的测试仪表或功能? ⑥ 外场的试验成本太高,占用人力物力,如何提高实验室环境模拟真实环境的测试能力? 技术设计的继承性,对关键技术和知识产权的保护? ADS 能提供什么?

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