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第 40 卷 第 5 期 ( ) 2005 年 10 月
山 东 大 学 学 报 理 学 版
Vol. 40 No. 5 JOURNAL OF SHANDONG UNIVERSITY Oct. 2005
( )
文章编号 2005
光源宽度与干涉条纹可见度的关系
王世平
(天津城市建设学院 基础学科部 ,天津 300381)
摘要 :在双缝干涉实验中 ,所用光源若是有一定宽度的 ,则屏上干涉条纹的可见度将受到一定的影响. 当宽到一定
程度时 ,屏上干涉条纹的可见度将下降到不可观测的程度. 推导出
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