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维普资讯 第 22卷第 1期 粉末冶金技术 V01．22．N0．I 2004年 2月 PowderMetallurgyTechnology Feb．2004 X射线小角散射法测量纳米粉末的粒度分布 王 辉 曾美琴 (华南理工大学机械工程学院，广州 510640) 摘 要： 在常规高分辨X射线衍射仪上应用小角散射法测量了ZnO、Zr％、Fe和 203纳米粉末的粒度分 布。测量结果与专用X射线小角散射仪器的测量结果一致，并经TEM分析验证。证明在常规高分辨X射线 衍射仪上应用小角散射法测量纳米粉末的粒度是可行的。与采用四狭缝系统或Kratky狭缝系统的专用小角 散射仪相比，该方法的特点是操作简单，成本较低，易