GB/T 11685-2003半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法.pdf

GB/T11685-2003 月U 舀 本标准是对GB/T8992-1988((硅(锉)X射线探测器系统测量方法》和GB/T11685-1989《半导 体X射线能谱仪的测量方法》的合并和修订。GB/T8992-1988和GB/T11685-1989均是非等效采 用IEC60759:1983(见参考文献仁1])编制的。 本标准代替GB/T8992-1988和GB/T11685-1989e 本标准包括半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法。由于探测器系统的输 出必须通过主放大器输人多道分析器，然后在多道分析器上获取X射线能谱方能观察和确定其性能特 性，所以探测器系统和能谱仪基本上采用相同的测量方法。本标准既保留了GB/T11685-1989的完 整性和GB/T8992-1988的可操作性，又通过有机地捏合，将两项标准合并为统一的新版本。 本标准对GB/T8992-1988和GB/T11685-1989的主要修改如下: a) 对半导体X射线探测器系统的测量不限于硅(锉)X射线探测器系统; b) 对半导体X射线能谱仪