实验5微观应力与亚晶尺寸的测量.docVIP

实验 微观应力与亚晶尺寸测量一、实验目的 1．了解X射线衍射峰宽化的原理。 2．掌握X射线衍射线形分析方法。 3．熟悉材料微观应变与亚晶粒尺寸的测量方法。 二、实验原理概述 1．衍射线形加宽的原因 由于合金材料加工等原因导致晶格畸变使衍射线变宽，另外，由于晶粒细化也引起衍射线变宽。因此，一般情况下，衍射峰的宽度由三部分组成，仪器本身固有的宽度，晶格畸变引起的宽化和由于晶粒细化引起的宽化。这三部分的效应不是简单的累加和而是一种卷积关系。 如果令被测试样衍射线形函数为h（x），标样（只有仪器宽度）衍射的线形函数为g(y)，物理加宽效应的线形函数为f(x)，则三者之间遵循的总面积关系为 精确地表达三个函数是困难的，在计算机数据处理中一般采用傅利叶分析方法求解，而在手工操作中也可以用近似函数的方法。 2．加宽效应与晶粒尺寸和晶格畸变的关系 X射线衍射理论和实践证明，晶粒尺寸与线形宽化存在如下关系（谢乐公式） D为晶粒尺寸，单位与波长的单位相同，m是因为晶粒细化引起的线形宽化，单位为弧度。K是一个常数，一般取1。 计算晶粒尺寸时，一般选取低衍射角的衍射线。 晶格畸变与引起的宽化之间存在如下的关系 n是由于晶格畸变引起的线形宽化，单位为弧度计算结果的单位为无量纲数。实际应用中，一般选取较高的衍射角来计算晶格畸变。 一般情况下，样品同时存在晶粒细化和晶格畸变，传统的处理方法是，记录同指数的线对的衍射，如（110）和（220）两条衍射线分别计算它们的宽化1，2，然后根据卷积关系来计算两条衍射线中两种宽化的数据(m1,n1)和(m2,n2)。并用公式和来计算出晶粒尺寸和晶格畸变。 上式中的M(x)是晶粒细化效应的线形函数，N(x)是晶格畸变效应线形函数它们可以由,和三种函数中选取。选取方法完全凭经验一般同时选择几种组合，最后选择误差最小的组合作为结果。现代X射线衍射仪配备有专门的分析程序。 三、实验内容 某些微细晶粒在烧结或加工过程中，由于晶粒小，畸变同时也存在，因此需要同时考虑晶粒细化和晶格畸变。使用传统方法选取一组同指数晶面的衍射峰作分析，也可以利用现代分析软件作全谱拟合分析。、实验报告要求 1． 分析X射线衍射峰宽化的因素，是如何共同作用的？ 2． 仪器宽度测量仪器宽度。