材料分析测试方法-5.pptVIP

多晶的衍射强度 相对强度 积分强度计算 已知入射X射线波长，计算给定多晶粉末的衍射线位置和相对强度。 德拜照相法原理 底片安装方法 正装法 反装法 偏装法 德拜相的指数标定 测量每条衍射线对的几何位置（2θ角）并换算为d值，测定每条衍射线对的相对强度，根据测量结果标定每一条衍射线的晶面指数。 4.2 X射线衍射仪法 随着各种辐射探测器（计数器）用于记录衍射强度，X射线衍射仪已取代照相法，是广泛使用的X射线衍射装置。 X射线衍射仪是进行晶体分析的最主要设备，具有方便、快速、准确等有点，与计算机结合，使操作、测量和数据处理实现了自动化。 X射线衍射仪 三部分构成。 衍射线方向用测角仪测量，衍射线强度用辐射探测器测量 X射线衍射仪 一、X射线测角仪 测角仪圆H 在测角仪圆周上安装有X光管S和X射线辐射探测器D，两者可以绕O轴线转动。 测角仪 测角仪圆中心为样品台H，H可绕中心轴O转动。 平板状粉末多晶样品放置在样品台H上，并保证试样被照射的表面与轴线O严格重合。 测角仪 工作时，若X光管固定不动，探测器与试样同时转动。为保证探测器始终位于反射方向上，两者转动的角速度为2：1的比例关系。 测角仪 衍射仪工作时，若样品固定不动，探测器与X光管同时转动，为保证探测器始终位于反射方向上，转动的角速度为1：1的比例关系。 θ－2θ联动：X光管固定，样品绕中心轴转动θ角，X射线探测器在测角仪圆上转动2θ角。 θ－θ联动：样品固定，X光管与X射线探测器同时沿测角仪圆转动相同的θ角。 θ－2θ联动与θ－θ联动，确保探测的衍射线与入射线始终保持2θ的关系，即入射线与衍射线以试样表面法线为对称轴，在两侧对称分布。 测角仪原理 这样辐射探测器接收到的衍射是那些与试样表示平行的晶面产生的衍射。 当然，同样的晶面若不平行与试样表面，尽管也产生衍射，但衍射线进不了探测器，不能被接受。 2. 测角仪的衍射几何 测角仪中X射线光路应满足布拉格定律和聚焦条件，以获得最大的衍射强度和分辨率。 聚焦圆——X射线管的焦点、样品表面被照射位置、接收狭缝三者位于一个圆上，称为聚焦圆。 聚焦圆 当一束X射线从S照射到试样上的A、O、B三点，各点的同一﹛HKL﹜的衍射线都聚焦到探测器F。圆周角∠SAF=∠SOF=∠SBF=π-2θ。 聚焦圆 设测角仪圆的半径为R，聚焦圆半径为r，根据衍射几何关系，可得聚焦圆半径r与测角仪圆的半径R的关系。 在三角形⊿SOO’中， 则 聚焦圆原理 上式中，测角仪圆半径R固定不变，聚焦圆半径 r 则随θ改变而变化。 当θ→ 0o，r → ∞；θ→ 90o，r → rmin = R/2。这说明衍射仪在工作过程中，聚焦圆半径r随θ增加而逐渐减小到R/2，且时刻在变化 要同时满足布拉格定律和聚焦原理，那么只有试样的曲率半径随θ角的变化而变化。这在实验中是难以实现。 通常试样是平板状，当聚焦圆半径r试样的被照射宽度时，可以近似满足聚焦条件。完全满足聚焦条件的只有O点位置，其它地方X射线能量分散在一定的宽度范围内。 3. 测角仪的光路布置 X射线经焦点S发出，在入射路径中加入S1梭拉光栏限制X射线在高度方向的发散，加入DS发散狭缝光栏限制X射线的照射宽度。 衍射仪中的光路布置 试样产生的衍射线也会发散，设置接收狭缝光栏RS、防散射光栏SS、梭拉光栏S2，仅让精确满足衍射方向的衍射线进入探测器，遮挡其余杂散射线。 二、X射线探测器 X射线探测元件为计数管（探测器），计数管及其附属电路称为计数器。 X射线探测器是基于X射线能使原子电离的特性而制造。 X射线衍射仪可用的辐射探测器有正比计数器、盖革管、闪烁计数器、Si（Li）半导体探测器、位敏探测器等，其中常用的是正比计数器和闪烁计数器。 1.正比计数器 由金属圆筒（阴极）与位于圆筒轴线的金属丝（阳极）组成。 金属圆筒外用玻璃壳封装，内抽真空后再充稀薄的惰性气体。一端由对X射线高度透明铍或云母等做窗口接收X射线。 阴阳极间加上稳定的600~900V直流高压； 没有X射线进入窗口时，输出端无电压； 若有X射线从窗口进入，X射线使惰性气体电离。 在电场作用下气体离子向金属圆筒运动，电子则向阳极丝运动。 由于阴阳极间的电压在600-900V之间，圆筒中将产生多次电离的“雪崩”现象，大量的电子涌向阳极，这时输出端就有电流输出，计数器可以检测到电压脉冲。 X射线强度越高，输出电流越大， 脉冲峰值与X射线光子能量成正比， 所以正比计数器可以可靠地测定X射 线强度。 正比计数器特点 X射线强度越高，输出电流越大，脉冲峰值与X射线光子能量成正比，所以正比计数器可以可靠地测定X射线强度。 特点：反应极快，性能稳定，能量分辨率高