GB/T 13178-2008金硅面垒型探测器.pdf

ICS27．120 F88 a雪 中华人民共和国国家标准 13178—2008 GB／T 13178--1991 代替GB／T 金硅面垒型探测器 surfacebarrierdetectors silicon Partiallydepleted gold 2008—07-02发布 丰瞀鹃紫瓣警矬瞥星发布中国国家标准化管理委员会“19 13178—2008 GB／T 刖 罱 本标准参考了IEC60333：1993《核仪器半导体带电粒子探测器测试程序》。 13178 本标准代替GB／T 1991《金硅面垒型探测器》(以下简称原标准)。 本标准保留GB／T13178--1991的大部分内容，对其的主要修改如下： ——增加前言； 一引用新的规范性文件； ——产品的外形及结构尺寸仅保留A型，删去原标准的B型和c型； ——部分耗尽金硅面垒型探测器的分类仅保留最小耗尽层深度为300／Lm一类，而主要性能增加 “允许最大噪声”。 本标准由中国核工业集团公司提出。 本标准由全国核仪器仪表标准化技术委员会归口。 本标准起草单位：中核(北京)核仪器厂。 本标准主要起草人：李志勇。 131781991。 本标准所代替标准的历次版本发布情况为：GB／T 13178--2008 GB／T 金硅面垒型探测器 1范围 本标准规定了部分耗尽金硅面垒型探测器(简称探测器)的产品分类、技术要求、测试方法、检验规 则等。 本标准适用于部分耗尽金硅面垒型探测器(不包括位置灵敏探测器)。锂漂移金硅面垒型探测器也 可参照执行。 2规范性引用文件 下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有 的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本标准，然而，鼓励根据本标准达成协议的各方研究 是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本标准。 IEC 60333：1993) GB／T5201带电粒子半导体探测器测试方法(GB／T5201--1994，neq GB／T10257--2001核仪器和核辐射探测器质量检验规则 3术语和定义以及符号 3．1术语和定义 下列术语和定义适用于本标准。 3．1．1 detector barriersemiconductor 面垒型半导体探测器surface