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第31 卷第4 期 《陶瓷学报》 Vol. 31, No. 4
2010 年12 月 JOURNAL OF CERAMICS Dec. 2010
文章编号:1000- 2278(2010)04- 0651- 07
氮化铝粉体制备的研究及展望
杨清华 王焕平 徐时清
(中国计量学院材料科学与工程学院,浙江杭州310018)
摘 要
氮化铝陶瓷具有高的热导率、良好的电绝缘性、低的介电常数和介电损耗,以及与硅相匹配的热膨胀系数,是现今最为理想的
基板材料和电子器件封装材料。氮化铝陶瓷的优良性能基于其粉体的高质量,因此,高质量氮化铝粉体的制备是获得性能优良氮
化铝陶瓷的关键。本文综述了氮化铝粉体制备技术的研究进展,并对其未来发展方向进行了展望。
关键词氮化铝,粉体制备,基板材料
中图分类号:TQ174.75 文献标识码:A
的化学稳定性和环保无毒等优点,已成为当今最为理
[1- 4]
1 引 言 想的基板材料和电子器件封装材料 。
氮化铝陶瓷的优良性能与其原始粉体的纯度有
着直接的关系。氮化铝粉体中杂质的存在将对陶瓷
氮化铝是一种综合性能优良的陶瓷材料,对其研
的热导率产生负面影响,氮化铝的导热机制是声子传
究可以追溯到一百多年前,但当时仅将其作为一种固
导,晶格的缺陷、气孔和杂质都会对声子产生散射,从
氮剂用作化肥。由于氮化铝是共价化合物,自扩散系
而降低氮化铝陶瓷的热导率。特别是O 原子固溶入
数小,熔点高,导致其难以烧结;直到20 世纪50 年
氮化铝晶格,占据N 原子的位置,产生Al 空位,形成
代,人们才首次成功制得氮化铝陶瓷,并作为耐火材
强烈的声子- 缺陷散射,使氮化铝陶瓷的热导率急
料应用于纯铁、铝以及铝合金的熔炼。 自20 世纪70
剧下降;当氮化铝陶瓷中氧含量为0.12 wt%时,其热
年代以来,随着研究的不断深入,氮化铝的制备工艺
导率降至185 W/ (moK),当氧含量上升到0.31 wt%
日趋成熟,其应用范围也不断扩大。尤其是进入21
时,其热导率下降到130 W/(moK)[5]。杂质的存在还将
世纪以来,随着微电子技术的飞速发展,电子整机和
对陶瓷的绝缘性能产生严重影响,Kurameto 等的研
电子元器件正朝微型化、轻型化、集成化,以及高可靠
究发现,当氮化铝粉体中的Si、Fe、Mg 等元素含量超
性和大功率输出等方向发展,越来越复杂的器件对基
- 4 [6]
过2×10 时,陶瓷
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