一种Cache一致性协议验证中覆盖率驱动的随机验证方法.pdfVIP

第２８卷第１１期　　　 计算机应用与软件 Ｖｏｌ２８Ｎｏ．１１ ２０１１年１１月　　 ＣｏｍｐｕｔｅｒＡｐｐｌｉｃａｔｉｏｎｓａｎｄＳｏｆｔｗａｒｅ Ｎｏｖ．２０１１ 一种Ｃａｃｈｅ一致性协议验证中覆盖率驱动的随机验证方法 李　拓　王恩东　胡雷均　秦济龙 （浪潮（北京）电子信息产业有限公司　北京 １０００８５） 摘　要　　随机验证技术是当今大规模集成电路仿真验证流程中的一项重要支撑技术，覆盖率驱动的随机测试生成方法是目前该 领域研究的热点之一。针对Ｃａｃｈｅ一致性协议的验证目标，介绍一种引入基于朴素贝叶斯模型的机器学习来完善基于覆盖率驱动 的随机验证的方法，并结合相关的实际验证过程对该方法进行了分析和讨论。 关键词　　软件高速缓存（Ｃａｃｈｅ）　随机验证　覆盖率驱动　机器学习　朴素贝叶斯模型 中图分类号　ＴＰ３０２　　　　文献标识码　Ａ ＡＣＯＶＥＲＡＧＥＤＲＩＶＥＮＲＡＮＤＯＭＶＥＲＩＦＩＣＡＴＩＯＮＭＥＴＨＯＤＩＮＣＡＣＨＥＣＯＨＥＲＥＮＣＥ ＰＲＯＴＯＣＯＬＶＥＲＩＦＩＣＡＴＩＯＮ ＬｉＴｕｏ　ＷａｎｇＥｎｄｏｎｇ　ＨｕＬｅｉｊｕｎ　ＱｉｎＪｉｌｏｎｇ （Ｉｎｓｐｕｒ（Ｂｅｉｊｉｎｇ）ＥｌｅｃｔｒｏｎｉｃＩｎｆｏｒｍａｔｉｏｎＩｎｄｕｓｔｒｙＣｏ．，Ｌｔｄ．，Ｂｅｉｊｉｎｇ１０００８５，Ｃｈｉｎａ） Ａｂｓｔｒａｃｔ　　ＲａｎｄｏｍｖｅｒｉｆｉｃａｔｉｏｎｔｅｃｈｎｏｌｏｇｙｉｓａｎｉｍｐｏｒｔａｎｔｓｕｐｐｏｒｔｉｎｇｔｅｃｈｎｏｌｏｇｙｉｎｍｏｄｅｒｎＶＬＳＩｓｉｍｕｌａｔｉｏｎｖｅｒｉｆｉｃａｔｉｏｎｐｒｏｃｅｓｓｅｓ．Ｃｏｖｅｒ ａｇｅｄｒｉｖｅｎｒａｎｄｏｍｔｅｓｔｉｎｇｇｅｎｅｒａｔｉｏｎｍｅｔｈｏｄｉｓｏｎｅｏｆｔｈｅｈｏｔｔｏｐｉｃｓｉｎｔｈｅｒｅｓｅａｒｃｈａｒｅａ．ＴａｒｇｅｔｉｎｇａｔＣａｃｈｅｃｏｈｅｒｅｎｃｅｐｒｏｔｏｃｏｌｖｅｒｉｆｉｃａｔｉｏｎ， ｔｈｅｐａｐｅｒｅｘｐｌａｉｎｓａｍｅｔｈｏｄｔｏｐｅｒｆｅｃｔｃｏｖｅｒａｇｅｄｒｉｖｅｎｂａｓｅｄｒａｎｄｏｍｖｅｒｉｆｉｃａｔｉｏｎｂｙｉｎｔｒｏｄｕｃｉｎｇｎａｔｉｖｅＢａｙｅｓｉａｎｍｏｄｅｌｂａｓｅｄｍａｃｈｉｎｅｌｅａｒｎ ｉｎｇ．Ｔｈｅｎｔｈｒｏｕｇｈｒｅｌａｔｉｖｅｐｒａｃｔｉｃａｌｖｅｒｉｆｉｃａｔｉｏｎｐｒｏｃｅｓｓｔｈｅｍｅｔｈｏｄｉｓａｎａｌｙｚｅｄａｎｄｄｉｓｃｕｓｓｅｄ． Ｋｅｙｗｏｒｄｓ　　Ｃａｃｈｅ　Ｒａｎｄｏｍｖｅｒｉｆｉｃａｔｉｏｎ　Ｃｏｖｅｒａｇｅｄｒｉｖｅｎ　Ｍａｃｈｉｎｅｌｅａｒｎｉｎｇ　ＮａｔｉｖｅＢａｙｅｓｉａｎｍｏｄｅｌ 秀的关键，而以覆盖率驱动的随机验证方法就可以较好地解决 ０　引　言 上述问题。 图１展示了一个简单的以覆盖率为驱动的验证工作流程。 随着集成电路设计的复杂度不断提高，功能验证正日渐成 为集成电路设计面临的重要挑战。纳米工艺使得单芯片中晶体 管密度达到每平方厘米包含百亿至千亿，对于验证工程师来说， 这一数字意味着工作难度的进一步加大。事实上，功能验证已 经成为集成电路设计的瓶颈。 随机测试生成技术是当今大规模集成电路仿真验证流程中 的重要支撑技术，在集成电路验证领域，特别是微处理器功能验 证领域，它具有重要地位［１］。但是人工编写测试向量需要花费 大量的时间和人力成本，并且测试向量的整体规模会受到局限。 相对的，随机生成的测试向量有可能覆盖到设计和验证人员完 全没有想到的功能角落，且生成的测试向量的规模和长度灵活 可控。问题在于，大量随机产生的测试向量也会造成验证功能 点的重复覆盖，并且测试向量的无谓重复只会延长功能验证的 收敛时间，降低验证效率。因此，合理地精简随机生成的测试向 量是减少重复测试向量、加速功能验证收敛的重要目标。 使用模拟验证的方法来进行功能验证，核心思想是将设计者 的意图与观察到的模拟器实际行为进行比较，以确