基于EBSD技术对Ni5W%2fNi12W%2fNi5W合金复合基带微取向的研究.pdfVIP

电子背散射衍射技术及应用 赵跃，索红莉，祝永华，刘敏，何东，马麟，吉元，周美玲 国家教育部功能材料重点实验室；北京：亡业大学材料学院北京100022 摘要：EBSD技术是对材料微取向信息进行表征的一种重要测试和分析手段。采用该技术，对大 冷轧变形量、再结晶退火后的Ni—W复合基带的表面和截面微取向进行了表征，对其品粒取向、 晶界特征等信息进行采集和分析。经Orientation Imaging 果表明该Ni基复合基带表面100以内立方织构晶粒百分含量为97．9％；微取向差在100以内的小 角度晶界的含量达到85．4％。此外，通过对具有多层结构的复合基带截面微取向图的分析表明， 内外层不同材料再结晶温度的差异是保证复合基带表面能够形成锐利立方织构的主要原因。 关键词：EBSD；复合基带；立方织构，小角度晶界 中图分类号：TM26 ofMicro—orientationsonNiW Substrates Analysis Composite by EBSD technique Yue JIand ZHOU ZHAO，HongLiSUO，YongHuaZhu，MinLIU，DongHE，LinMA，YuanMeiLing ofAdvancedFunctional of ofMaterialsScience KeyLaboratory Materials，MinistryEducation，College and of 100022，China Engineering，BeijingUniversityTechnology,Beijing this of theN15Wsurfaceand Abstract：InWOrk．themicro—orientationboth layercrosssectmnofaNiW substratethatwas cold and composite processedbyheavy rollingrecrystallizationannealing，was EBSD datasuchasmisorientation boundarieswas analyzedby technique．The angles，grain collected， whiletheresults calculatedOIM4．6software．TheEBSD being by hi【gh ImageQuality(IQ、was obtainedinthe surfaceaftercold andthe without sample rolling annealingprocess anypolishing．A cubetexturewasformedonthesurfaceof ofas-obtainedNiW substrate． sharp outer-layer composite The ofthecubetexture inthe substrateswasreachedto97．9％withina percentage grains composite misorientationof1 the fractionoftheLow misorie