金属离子在多孔硅表面的吸附与电镀过程中金属在多孔硅表面的淀积.pdfVIP

金属离子在多孔硅表面的吸附与电镀过程中金属在多孔硅表面的淀积.pdf

  1. 1、原创力文档(book118)网站文档一经付费(服务费),不意味着购买了该文档的版权,仅供个人/单位学习、研究之用,不得用于商业用途,未经授权,严禁复制、发行、汇编、翻译或者网络传播等,侵权必究。。
  2. 2、本站所有内容均由合作方或网友上传,本站不对文档的完整性、权威性及其观点立场正确性做任何保证或承诺!文档内容仅供研究参考,付费前请自行鉴别。如您付费,意味着您自己接受本站规则且自行承担风险,本站不退款、不进行额外附加服务;查看《如何避免下载的几个坑》。如果您已付费下载过本站文档,您可以点击 这里二次下载
  3. 3、如文档侵犯商业秘密、侵犯著作权、侵犯人身权等,请点击“版权申诉”(推荐),也可以打举报电话:400-050-0827(电话支持时间:9:00-18:30)。
  4. 4、该文档为VIP文档,如果想要下载,成为VIP会员后,下载免费。
  5. 5、成为VIP后,下载本文档将扣除1次下载权益。下载后,不支持退款、换文档。如有疑问请联系我们
  6. 6、成为VIP后,您将拥有八大权益,权益包括:VIP文档下载权益、阅读免打扰、文档格式转换、高级专利检索、专属身份标志、高级客服、多端互通、版权登记。
  7. 7、VIP文档为合作方或网友上传,每下载1次, 网站将根据用户上传文档的质量评分、类型等,对文档贡献者给予高额补贴、流量扶持。如果你也想贡献VIP文档。上传文档
查看更多
金属离子在多孔硅表面的吸附与电镀过程中金属在多孔硅表面的淀积.pdf

维普资讯 化学学报ACTACHIMICASINICA1998,56,171~177 一f77 金属离子在多孔硅表面的吸附与电镀过程中 金属在多孔硅表面的淀积 王冠中 李 鹏 马玉蓉 方容』 (=)6 - — — 一 (中国科学技术大学物理系 台肥 23o~6) 李凡庆 了 (二、 (中国科学技术大学结构与成分分析中心 台肥 230026) 摘要 刚制备的多孔硅与金属盐溶液接触会产生金属离子在多孔硅表面的吸附现象 .实验显示这 一 现象只发生在新鲜的多孔硅表面,而存放一月 后的样品不具备此性质 .文中把这一现象归园于 新鲜的多孔硅表面电子的富集,溶液中金属离子从多孔硅表面获得电子而附着 .多孔硅表面电镀金 属过程中,一定电压下电镀电流密度在起始阶段逐渐下降,可以用~个指数关系式较好地描述,在本 文中用一十唯象模型予以解释 . 关键词 多孔硅,吸附,电镀,离子 金 洒根 — — 一 — ~ — 一 ~ 本文报道在无外电场情况下金属盐溶液中多孔硅表面对金属离子的吸附以及 电镀过程 中 金属在多孔硅表面淀积的生长机制 近年来多孔硅发光的发现ll引起人们对硅基光 电子器件 的浓厚兴趣,许多工作着重于揭示多孔硅发光的内在机制[2-4J和追求 电致发光 的更大效 率Cs-7J.由于多孔硅的高效率电致发光具有潜在应用前景,我们把注意力集中在多孔硅与金 属接触结构的研究,希望由此获得提高电致发光效率的有效途径 同时多孔硅极大的比表面 积提供了半导体与金属接触的新的研究对象 近年来 已有许多工作探讨多孔硅接触结构的电 学特性[5,6,8--I1J和电致发光现象5【,6,10,11J,指出了多孔硅众多的表面态导致接触结构具有较大 的内部串联 电阻和较 大的理想 因子_l0_ll,这 同时也阻碍 了多孔硅 电致发光效率 的提 高l8,10,11J多孔硅表面的悬键态也被认为是金属多孔硅接触结构出现横 向光伏效应的原 因[12ZPacebutas等L13J的工作则表明剐制备的F型多孔硅在制成接触结构后没有明显的光伏 效应.只有在多孔硅表面的纳米级的表层去除后制各接触结构光伏效应才明显出现 近年来 关于多孔硅接触结构的研究主要集中F—Si制备的多孔硅,接触结构的制各方法也没有涉及 电镀法.但我们在研究中发现,用 电镀法制作的接触结构的内部串联 电阻和理想因子远小于其 他方法制作的接触结构,同时n—Si制各的多孔硅制成接触结构后具有较大的光伏效应,对此 我们另作报道 1 实验 男,∞ 岁,博士,讲师 收稿 日期 1996—09—10 维普资讯 172 化学学报 ACTACHIMICASINICA 1998 用来制备多孔硅的是单面抛光的(1oo)方向的n型单晶硅,电阻率为--Sf~·crl1.首先在硅 片未抛光面制备欧姆接触的铝膜,然后采用阳极氧化方法制备多孔硅,溶液配 比为HF:H2SO4 :酒精=4:2:4,电流密度为 5mA-cn1_。,阳极化时间为 30rain,在制备过程中采用 150W 钨灯 距硅片20cm处照射 . 2 结果与讨论 2.1 多孔硅表面对金属离子的吸附 完成阳极化腐蚀的硅片经过酒精冲 洗后,让其有多 L硅的一面接触 0.1 mol-dm 浓度 CuSO4溶液(溶液用分折 纯CuSO4晶体溶于去离子水配置而 成),3omln后取出样品 .我们发现在多 替 孔硅表面明显附着一层金属Cu膜,而 在硅片同一表面非多孔硅部分则没有 博 Cu膜附着,这一点也从x射线衍射谱中 瓢

文档评论(0)

docinppt + 关注
实名认证
文档贡献者

该用户很懒,什么也没介绍

1亿VIP精品文档

相关文档