一种抗单粒子翻转容错异步收发器电路设计.pdfVIP

第34卷 第7期 核电子学与探测技术 Vo1．34 No．7 2014年 7月 NuclearElectronics＆ DetectionTechnology July． 2014 一 种抗单粒子翻转容错异步收发器电路设计 杨海波 ，丁朋程 ，苏弘 ，王晓辉 ，孔洁 ，赵红赞 ，杨振雷 ， (1．中国科学院近代物理研究所，兰州 730000；2．中国科学院大学，北京 100049； 3．西北师范大学，兰州730070) 摘要：为了改善星载粒子探测装置异步收发器的抗单粒子翻转性能，提出了一种基于ActelFlash FPGA的解决异步收发器抗单粒子翻转和传输过程中检错和纠错问题的高可靠设计方案。基于Actel公 司的ProASICPlus系列APA600FPGA，采用汉明码(HammingCode)和三模冗余 (TripleModularRedun． dancy，TMR)法相结合的方式对异步收发器进行容错设计，实现了一种新型的抗单粒子翻转电路。对于 发送器模块，首先数据处理单元把发送的数据送到编码器中完成汉明码编码，之后将编码完成的数据分 别发送给多数表决器中来表决得到数据送入串行发送器中，最后将并串转换的数据发送出去。对于接 收器模块，通过串行接收器对接收数据进行串并转换，并将转换后的并行数据送入解码器，解码器对接 收到码字进行译码 ，得到最终的信息数据。对设计进行误差注入仿真测试，结果表明所设计的容错异步 串行收发器能够有效地容错，可以非常方便地应用到航空航天等辐射环境中，实现高可靠的系统设计。 关键词：FlashFPGA；三模冗余；汉明码；异步收发器；容错；抗辐射 中图分类号：TP331．1 文献标志码：A 文章编号：0258-0934(2014)07-0907-06 随着我国航空航天事业的迅速发展，星载 的要求必须进行冗余设计。 电子学设备的应用越来越广泛。然而，太空环 由于SRAM型FPGA结构复杂，单粒子效 境中充满了各种粒子辐射，会对星载电子学设 应免疫力较低 J，而Flash型 FPGA在航天电 备产生严重的辐射效应影响，其中单粒子翻转 子设备中得到较为广泛的应用。为了满足航天 (SingleEventUpset，SEU)的影响，尤为严重 。 应用的需求，我们基于Actel公司Pr0ASICPlus SEU效应是由高能粒子入射到集成电路器件的 系列中的FPGA芯片APA600开展了相关电路 敏感区域引起的，通常会导致 FPGA中的存储 设计。该芯片具有在航空航天任务中应用的历 单元发生位翻转，带来的后果可能是计算结果 史，经历了多次的太空实际应用的检验。本文 错误、程序执行序列错误，甚至是系统的崩溃 主要介绍了一种新型抗辐照异步收发器电路 等 一J。可靠性是航空航天领域中最重要的性 UART在 APA600中设计与实现的方法，电路 能指标之一，设计时必须保证系统在局部出现 采用 了汉明码 (HammingCode)和三模冗余 故障时能够缓解和容忍错误，把错误造成的影 (TripleModularRedundancy，TMR)法相结合的 响降到最低。因此，为了满足卫星可靠性指标 冗余设计方式，增强了模块的抗辐照性能，提高 了电路的可靠性。 收稿 日期：2014—07—08 1 Flash型FPGA结构以及单粒子效应 基 金项 目：国家 自然 科 学 基 金 。 目前流行的FPGA主要有反熔丝型、SRAM