X射线荧光光谱法测定硅砂中杂质元素.pdfVIP

维普资讯 PTCA(PARTB：CHEM．ANAL．) X射线荧光光谱法测定硅砂 中杂质元素 杨雪梅 (河北省亚稳材料制备技术与科学重点实验室 燕山大学 材料科学与工程学院，秦皇岛O66OO4) 摘 要：在 X射线荧光光谱法测定硅砂 中杂质成分含量 中对试样熔融所用的熔剂作 了改进。 在常用的四硼酸锂及硼酸锂所组成的复合熔剂中再加入氧化钙组成三元复合熔剂，加入的氧化钙 与原两元复合熔剂两者之间以3与7的质量比混合。采用此改进的复合熔剂熔融试样，克服 了在 试样的玻璃状熔块中夹杂了不溶性二氧化硅颗粒的现象，即所谓 “晶斑”现象，使试样达到完全分 解。按此法，测得 4项杂质组分(A1。O。，FeO。，MgO及 TiO2)的含量与化学法测得结果相符。 关键词：X射线荧光光谱法；硅砂 ；制样；熔融 中图分类号：0657．31 文献标识码 ：A 文章编号：