测试系统技术 教学课件 作者 郭军 第1－8章 第3章.pptVIP

3.2 数据采集设备 3.2.1 A/D变换基本原理与类型 　　1. 逐次比较型 　　如图3.11所示，逐次比较型A/D转换器由一个比较器和D/A转换器通过逐次比较逻辑构成，从MSB开始，顺序地对每一位将输入电压与内置D/A转换器输出电压进行比较，经n次比较而输出数字值。其电路规模属于中等。其优点是速度较高、功耗低，在低分辨率(12位)时价格便宜，但高精度(12位)时价格很高。 图3.11 逐次比较型A/D转换器原理图 　　2. 并行比较型/串并行比较型 　　如图3.12所示，并行比较型A/D转换器采用多个比较器，仅作一次比较而实现转换，又称Flash(快速)型。由于转换速率极高，n位的转换需要2n－1个比较器，因此电路规模也极大, 价格也高，只适用于视频A/D转换器等速度特别高的领域。 　　串并行比较型A/D转换器在结构上介于并行比较型和逐次比较型之间，最典型的是由2个n/2位的并行型A/D转换器配合D/A转换器组成，用两次比较实现转换，所以称为Half Flash型。还有分成三步或多步实现A/D转换的转换器叫做分级型A/D转换器，而从转换时序角度又可称为流水线(Pipelined)型A/D转换器，现代的分级型A/D转换器中还加入了对多次转换结果作数字运算从而修正特性等功能。这类A/D转换器速度比逐次比较型高，电路规模比并行比较型小。 图3.12 并行比较型A/D转换器原理图 　　3. 电容阵列逐次比较型 　　电容阵列逐次比较型A/D转换器在内置D/A转换器中采用电容矩阵方式，也可称为电荷再分配型转换器，其原理如图3.13所示。一般的电阻阵列D/A转换器中多数电阻的阻值必须一致，然而在单芯片上生成高精度的电阻并不容易。而现在在MOS电路中可以较容易地制造出精密的小容量电容，如果用电容阵列取代电阻阵列，则可以用低廉成本制成高精度单片A/D转换器。现在的逐次比较型A/D转换器大多为电容阵列式。 图3.13 电容阵列逐次比较型A/D转换器原理图 　　4. 积分型 　　积分型A/D转换器的工作原理与并行比较型、分级型和逐次比较型等直接转换型的A/D转换器有根本区别。积分型A/D转换器通过积分电路把线性模拟电压转换成脉冲信号，在这段时间内通过计数器对标准时钟脉冲计数，计数值反映了模拟电压的大小。由此可见，这种转换是把时间作为中间变量的一种间接转换。根据一次转换中积分斜率变化的次数，积分型A/D转换器又分成单积分、双积分和四积分等类型。其优点是用简单电路就能获得高分辨率，但缺点是由于转换精度依赖于积分时间，因此转换速率极低。图3.14给出了双积分型A/D转换器的原理图。初期的单片A/D转换器大多采用积分型，现在逐次比较型已逐步成为主流。 图3.14 双积分型A/D转换器原理图 第3章　前向通道设计技术 第3章 前向通道设计技术 3.1 前端信号处理模块 3.2 数据采集设备 习题与思考题 3.1 前端信号处理模块 3.1.1 测量放大模块 　　目前使用最广泛的测试系统的接口为模数(A/D)转换电路，而经传感器转换后的电量，如电流、电压等信号的幅度往往都很小，很难直接进行模数转换，或者虽然可以进行转换，但与A/D转换的输入范围不匹配，浪费了A/D的量程或无法达到相应的测量分辨率。在这些情况下,必须对这些由传感器输出的被测电信号进行放大处理，同时完成与测试系统接口电路的阻抗匹配，并抑制在转换过程中产生的噪声，这些工作都需要在测量放大模块中来完成。 　　在实验室等电磁干扰不严重的地方，可以选用一般的通用集成放大器来构成放大电路，完成被测电流、电压信号的放大，电平转换。 【例 3.1】 已知一传感器的输出信号为0～20 mV的电压信号，而测试系统接口A/D系统的量程为0～5 V，设计一套测量放大模块，完成两者之间的信号匹配。 　　分析：输入信号和输出信号都是电压信号，而且都是以0 V为基准，因此不涉及电平转换问题，又根据放大模块对应的输入输出范围，只需一个同向放大器即可完成。 　　答案：搭建如图3.1所示的同向放大器，取R1=100 Ω，Rf=2.5 kΩ即可满足要求。这种情况下，放大模块的输入阻抗较低，将在一定程度上降低系统的测量精度，因此，通常使传感器输出的电压信号Ui首先经过同向跟随器，再经同向放大器放大。最终的电路如图3.2所示。 图3.1 同向放大器 图3.2 电压测量放大模块 　　1. 仪表放大器工作原理 　　当对信号测量精度要求不是很高时，采用通用的集成运算放大器(如741，LM324等)即可，当对测量精度要求较高时，应选用低噪声的集成运算放大器(如OP07等)。 　　在生产、科研试验等现场，外部环境往往比较恶劣，在传感器输出端或被测设备模拟信号输出端经常会产生共模干扰。在