利用动态变频正弦光栅图样测量CCD的调制传递函数.pdfVIP

第 23 卷第 2 期 辽宁师范大学学报 自然科学版 V o l. 23　N o. 2 2000 年 6 月 Jou rn a l of L iaon ing N o rm a l U n iver sity N atu ra l Scien ce J un. 　2000 文章编号: 2000 020 14203 利用动态变频正弦光栅图样测量CCD 的调制传递函数 1 2 2 宋　敏 , 　孙　怡 , 　李叶芳 1. 辽宁师范大学 物理系, 辽宁 大连　116029; 2. 大连理工大学 电信学院, 辽宁 大连　116024 摘　要: 提出了一种利用动态变频正弦光栅图样测量CCD 的调制传递函数的方法. 与其他方法相比, 该方法具有数 据处理简单、靶函数的引入无需借助光学系统的特点. 给出了典型的线阵和面阵CCD 的调制传递函数曲线. 关键词: 电荷耦合器件 CCD ; 正弦光栅图样; 调制传递函数 中图分类号: O 439; TN 386. 5　　　文献标识码: A 电荷耦合器件 CCD 是一种非常实用的新型成像器件, 其应用领域正在不断扩展. 因此, 搞清它们 的成像特性, 尤其是它们的频率响应特性就显得非常重要. 用调制传递函数 — 来评价成像系统的质量是 目前已被普遍认 m odu lat ion tran sfer funct ion M T F 可的方法. 在解决了其用于评价离散成像系统可能出现的问题之后, 近年来, 对测量CCD 调制传递函数 方法的研究倍受关注, 并且已经出现了多种测量CCD 调制传递函数的方法. 但归纳起来, 这些方法基本 上可分成两类. 一类是以L indberg [ 1 ] 方法为思想基础的, 利用固定靶测传递函数的方法; 另一类则是以 Kubo ta[2 ] 方法为思想基础的, 利用随机靶测传递函数的方法. S B Com p ana[3 ] 首先提出了利用点扩散函数 P SF 测量CCD 调制传递函数的方法. 随后S K P ark [4 ] 提出的点源系统平均法和 S E R eich enbach [ 5 ] 的刃边法均属于固定靶类方法. 这类方法存在以下不足: 1 测得的CCD 的响应都是从有限区域而非整个阵列获得的. 2 将靶标引入CCD 像面必须借助光学 成像系统, 而成像系统光学元件的质量对CCD 的M T F 测量结果有直接影响. 3 需要利用复杂的扫描 技术获得检测结果. 为此, G Bo rem an [ 6 ] 提出了利用激光散斑这种随机靶测量CCD 的M T F 方法. 而继 他们之后A D an iels[7 ] 的随机透过靶法和W A star [ 8 ] 的扩展频率孔径法都是对这类方法的改进. 虽然随 机靶法较之固定靶法有了改进, 但相干噪声高、数据处理复杂、衍射孔径的质量对测量结果有影响等问 题, 对该类方法实现CCD 质量的在线检测构成了障碍. 事实上对于一个成像系统而言, 传递函数是输入频谱与输出频谱比较的结果. 而对输入的物函数作 傅里叶变换获得输入频谱的过程, 不过是把输入的物函数分解成具有不同空间频率的复指数过程. 因 此, 在测量传递函数时, 正弦函数应该是最理想的靶函数, 因为它可以使数据处理变得非常简单. 因此本 文提出了利用动态变频正弦光栅图样测量CCD 的M T F 方法. 1　CCD 的M T F 理论 一个采样成像系统通常由光学成像子系统、 采样成像子系统和重构子系统组成. 为简便起见, CCD 我们以一维 阵列为例讨论 的采样情况. 假定 每个像元的有效尺寸为 , 像元间隔 两相 CCD CCD CCD a 邻像元间的中心距离 为 . 已有的研究结果指出: 对 阵列而言, 在考虑到 像元均匀分布的前 b CCD CCD 提下, 如果入射到其上的信号强度分布为f x , 则每个像元采得的信号强度应是每个具体像元内各部 [9 ] 分所接收的强度之和 . 因此, 它应由 在 - - 2 到 - + 2 间隔内积分获得 其中 为像 f x x a x a x 元 中心坐标, 为 f x 相对于采样函数的相对位置 . 在我们的工作中,f x 是一个正弦函数, 它可以 收稿 日期: 座机电话号码 基金项 目: 国家自然科学基金资助项 目 座机电话号码 1 作者简介: 宋敏 1962　 , 女, 辽宁鞍山人, 辽宁师范大学物理系副教授, 博士. 第 2 期 宋　敏等: 　利用动态变频正弦光栅图样测量 CCD 的调制传递函数 143 表示为 f x 1 + A 1co s