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Beam V iew 光光束质量诊断系统 用手册 济南福来斯光电技术有限公司 Jinan FLS Optoelectronics Technology Co., Ltd. PDF 文件使用 pdfFactory Pro 试用版本创建 Beam View 光光束质量诊断系统 用户手册 目 录 1 仪器主要功能 2 主要技术指标 3 主要配置 4 其它配置 5 操作使用 5.1 设置采集卡 5.2 CCD 像素尺寸配置 5.3 BEAM VIEW 软件功能介绍 5.4 练习使用 5.5 菜单 5.6、光学暗箱的构成、调节和使用 6 一般故障处理 附录1： 用Word 或Exe ll格式取出数据 附录2： 高斯拟合 附录3：激光光束质量分析概述 附录4：衰减部件- 固定衰减片组和连续衰减器 附录5：CCD 参数及CCD 使用注意事项 - １- PDF 文件使用 pdfFactory Pro 试用版本创建 Beam View 光光束质量诊断系统 用户手册 1 仪器主要功能 FLBQ 红外激光光束质量分析系统能够测量激光光束的二维和三维分布 （长短轴 2 大小、光强的空间分布），配合精密刻度导轨能计算出激光光束的1/2 发散角和1/e 发 散角。不仅适用于小发散角 （如固体、气体激光器等）的测量而且适用于大发散角的半 导体激光器。 2 主要技术指标 a) 测试波长范围：400nm-1550nm； b) 测试激光功率范围：0.01mW~100W (脉冲) ； c) 最大测量光斑直径：60mm ； d) 测量暗室采用吸光材料，以消除杂光干扰； e) 光学元件置于光学精密调节架上，以保证其平稳调节； f) 分辨率：高于400 万像素； g) 连续模式和脉冲模式； h) 光束二维，三维分布图形，伪彩显示 3 主要配置 部件名称 数量 型号或功能描述 计算机主机 1 采用pc 机，P4 配置，内置显卡、声卡、预装WinXP 操作系统。 显示器 1 17 吋液晶显示器 CCD 1 1 适合于400- 1100nm 测试。暗箱内使用。 CCD2 1 适合于1550nm 测试。暗箱内或外使用 图像采集卡 1 数据采集