CT伏安特性校验报告-发变组B柜.docVIP

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CT伏安特性校验报告校验报告 设备名称 2号发变组保护B柜 校验单位 检修部继电保护室 回路编号 A4071、B4071、C4071 变 比 15000/5 试验仪器 OMICRON electronice CT Analyzer 试验日期 2010年1月 A相 B相 C相 拐点电压 拐点电流 拐点电压 拐点电流 拐点电压 拐点电流 1753V 1.849A 1775V 1.872A 1797V 1.886A A相励磁曲线: B相励磁曲线: C相励磁曲线: 结论:经过测试CT伏安特性正常,CT可以投入运行。 试验负责人: 试验成员: CT伏安特性校验报告校验报告 设备名称 2号发变组保护B柜 校验单位 检修部继电保护室 回路编号 A4021、B4021、C4021 变 比 15000/5 试验仪器 OMICRON electronice CT Analyzer 试验日期 2010年1月 A相 B相 C相 拐点电压 拐点电流 拐点电压 拐点电流 拐点电压 拐点电流 1765V 1.792A 1765V 1.902A 1750V 1.797A A相励磁曲线: B相励磁曲线: C相励磁曲线: 结论:经过测试CT伏安特性正常,CT可以投入运行。 试验负责人: 试验成员: CT伏安特性校验报告校验报告 设备名称 2号发变组保护B柜 校验单位 检修部继电保护室 回路编号 A4101、B4101、C4101 变 比 600/1 试验仪器 OMICRON electronice CT Analyzer 试验日期 2010年1月 A相 B相 C相 拐点电压 拐点电流 拐点电压 拐点电流 拐点电压 拐点电流 1530V 251.3mA 1467V 138.7mA 1509V 255.8mA A相励磁曲线: B相励磁曲线: C相励磁曲线: 结论:经过测试CT伏安特性正常,CT可以投入运行。 试验负责人: 试验成员: CT伏安特性校验报告校验报告 设备名称 2号发变组保护B柜 校验单位 检修部继电保护室 回路编号 A4221、B4221、C4221 变 比 2000/5 试验仪器 OMICRON electronice CT Analyzer 试验日期 2010年1月 A相 B相 C相 拐点电压 拐点电流 拐点电压 拐点电流 拐点电压 拐点电流 331.0V 129.4mA 335.5V 150.0mA 336.7V 201.4mA A相励磁曲线: B相励磁曲线: C相励磁曲线: 结论:经过测试CT伏安特性正常,CT可以投入运行。 试验负责人: 试验成员: CT伏安特性校验报告校验报告 设备名称 2号发变组保护B柜 校验单位 检修部继电保护室 回路编号 A4271、B4271、C4271 变 比 4000/5 试验仪器 OMICRON electronice CT Analyzer 试验日期 2010年1月 A相 B相 C相 拐点电压 拐点电流 拐点电压 拐点电流 拐点电压 拐点电流 176.9V 602.6mA 173.2V 418.5mA 174.5V 269.3mA A相励磁曲线: B相励磁曲线: C相励磁曲线: 结论:经过测试CT伏安特性正常,CT可以投入运行。 试验负责人: 试验成员: CT伏安特性校验报告校验报告 设备名称 2号发变组保护B柜 校验单位 检修部继电保护室 回路编号 A4371、B4371、C4371 变 比 300/5 试验仪器 OMICRON electronice CT Analyzer 试验日期 2010年1月 A相 B相 C相 拐点电压 拐点电流 拐点电压 拐点电流 拐点电压 拐点电流 169.2V 287.1mA 173.2V 418.5mA 169.0V 365.7mA A相励磁曲线: B相励磁曲线: C相励磁曲线: 结论:经过测试CT伏安特性正常,CT可以投入运行。 试验负责人: 试验成员: CT伏安特性校验报告校验报告 设备名称 2号发变组保护B柜 校验单位 检修部继电保护室 回路编号 L4111,N4212 变 比 300/5 试验仪器 OMICRON electronice CT Analyzer 试验日期 2010年1月 O相 拐点电压 拐点电流 52.98V 162.2mA O相励磁曲线: 结论:经过测试CT伏安特性正常,CT可以投入运行。 试验负责人: 试验成员: CT伏安特性校验报告校验报告 设备名称

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