磁放大(amorphous core) 经典5.pdfVIP

磁放大(amorphous core) 現象: 磁放大在power 上工作時,經常由於在做成成品之前破壞了其 原有的特性,致使power 在運行中時常出現輸出電壓偏高 (API3FS01-630G-L8) 或偏低 (API3FS55-531L-L8) 等. 具體分析: 從大多數不良品來看,我們可以從如下幾點來分析: 1) 一般此類電感器圈數很少,不會因為圈數而出問題,那就可以 確定是core(amorphous core)存在問題,具體為core 的磁通密 度(B). 若B 偏下限時,則輸出電壓走上限;若B 偏上限,則輸出電壓走下限. A) 全磁通øss （避免低负载时电压下降） B)磁滞回线B （H）矩形比（避免全载时电压下降） 2) 在制程中可能導致此issue 的原因如下: a) 绕线时,外壳对內部的带材有个挤压的应力,会导致带材 的破损及断裂. b) 在组装case 的时候可能会导致case 与带材间的挤压, 从而导致损坏等. c) 带材在圈绕的时候,松紧度及首尾的重叠(也就是说圈 绕的圈数可能会多点). d) 最恶劣的就是用料错误(带材的材质),此项产生的机率 很低很低. e) 作業員把不良品(被摔過的,如摔在地上或被外力施壓 過)流入下一站位等等. 之前的對策為: A) 下皆供应商在做每个机种都需向客戶借一台 POWER,进行 100%動態测试,测试规格会在SCD 注明(例如:動態測試 3.3Vdc @Output 5V*0A; 3.3V*0A; 12V*12A; -12V*0A; 5Vs*2A; 12V2*6A 3.3Vdc SPEC範圍 = 3.14 ~ 3.46 Vdc)方可出货. 此方案不管是對廠商或客戶都會带来很多人力及时间的浪费,但 品质可以得到保证. B) 利用 B-H 测试仪进行测试,但此仪器非常昂贵,人民 币大约80 万,制造商不能接受,目前供应商郡懋有此仪器. C) 如尝试用 LCR meter 全华(重叠电流) 來測試的話,测 出的结果不明显,良品与不良品很难区分且從科學的角度出發解釋不 通. D) 如果把我們的需求告訴 core 的原廠,請他們務必按 照其規格生產,各項參數在成形之前需考慮到繞線 時受到的影響.換句話說也就是請core 的原廠 保證出貨品在繞完線后依然OK. 此項要求對目前的技術上及生產成本來講都是很大的挑戰! 現階段研究對策: Part 1) 在制造商端,對其繞線時使用的力度的管控 mechanicalstrength Part2) 通過此研究力求在靜態測試的時候辯別出良品與不 良品--L-testing ofamorphous core Part 1 具體方案如下: a) 在成品制造商端,進料檢驗的時候應對來料CORE 的外 殼受力情況做測試,計算公式如下: 機械力= 6 * F * (da + di) / (3.14 * h * (da - di)^2) 測試方法: Notes: 1) F:一直到CASE 破裂(凹陷)的径向力(N). 2) da:CASE 的外部直径.(mm) 3) di:CASE 的內部直径(mm) 4) h:case 的高度(mm) b) 在制程中應注意其繞線及固定core 的方式: c)Amorphous core 在受到外界機械力會導致帶材的