稳态工作条件下功率晶体管结温的测量与控制.pdfVIP

封装测试技术 稳态工作条件下功率晶体管结温的 测量与控制 1 1 2 1 1 贾颖 ，曾晨晖 ，梁伟 ，李逗 ，李霁红 （1．北京航空航天大学可靠性工程研究所，北京100083； 2．济南大学物理系，济南 250002） 摘要：为了在试验周期中了解晶体管的结温，提出一种在功率晶体管稳态工作寿命试验过程中结温的 测量与控制方法。着重介绍了基于理想pn结肖克莱方程的结温测量原理，及试验过程中结温测控的技术难 点和解决方案，指出了晶体管结温计算中存在的问题和修正办法，实验结果证明了该方法的可行性。 关键词：晶体管；稳态工作；结温；测量；控制 中图分类号：TN321 文献标识码：A 文章编号： (1. ，Beijing100083, China； 2.Dept. of Physics, Jinan University，Jinan250002,China) Abstract： feasibility of the method. Key words： 法1039中的试验条件B：对底座或散热器安装的双 1 引言 +0 [5] 极型晶体管，结温规定为T=T -25℃ 。GJB33A- j jmax 稳态工作寿命试验是考核功率晶体管可靠性行 97《半导体分立器件总规范》对质量一致性检验C6 之有效的方法，现行国际标准 （IEC）和欧美等国 分组稳态工作寿命试验条件规定的稳态持续工作时 [4] 的标准及我国的国家标准、国家军用标准均将其规 间为 “在最高结温下至少1000h” 。 [1~4] 定为必须试验项目 。稳态工作寿命试验条件要 但是，现行的试验方法和设备都是按恒定壳温 素包括 ：晶体管的电应力为与规定壳温T相应的最 设计的，在试验过程中无法测量结温。显然，要 c 大额定功率P ；晶体管的结温T符合标准的规 符合标准规定的试验应力要求，则需要在稳态工作 totmax j 定值，通常在最高允许结温T 附近；晶体管稳 寿命试验过程中实施结温的监测和控制。在标准规 jmax 态持续工作时间满足标准的要求。例如，我国军用 定应力下取得的试验数据，才能反映晶体管在额定 标准GJB128A-97《半导体分立器件试验方法》方 应力下工作时其实际可靠性特征。因此，在稳态工 J anuary 200 6 Semiconduct or Technol ogy Vol . 3 1 No. 1 35 封装测试技术 作条件下实现受试晶体管的结温测量和控制有益于 温度下测量出pn结相应的V 和V ，即可得到V