模拟集成电路的设计完整性和技术展望.pdfVIP

学科代码：520.6050 / 510.1035 模拟集成电路的设计完整性和技术展望 吴玉平 （中国科学院微电子研究所 北京市朝阳区北土城西路 3 号 100029 ） 摘要：本文根据模拟集成电路设计自动化研究存在的几个问题首次提出模拟集成电路设计完整性概念， 然 后给出了未来以设计完整性为核心的不同设计层次之间迭代次数比较少的全新的模拟集成电路设计自动化 流程，并详细介绍了流程中各个设计层次的约束条件种类及其自动生成的技术基础、有效组织流程的面向 对象的统一的模拟电路设计项目管理方法，以及在电路级、布图规划、器件布局和物理互连阶段确保模拟 集成电路设计完整性的有关自动调试及修正方法，最后展望了其中的一些关键技术。 关键词：模拟集成电路设计完整性； 设计流程；设计约束条件；自动调试；设计项目 自动管理 中图分类号：TN4 ； TP39 文献标识码：A 文章编号： Analog IC Design Integrity and Technology Vision