复合晶体硫化物Sr1．145TiS3高分辨电子显微术研究.pdfVIP

电子显微学报J．Chin．Electr．Microsc．Soc． 17(5)t485～4861998年 复合晶体硫化物Sr¨。。TiS。的 高分辨电子显微术研究 杨改英 (清华大学材料科学与I程研究院电子显微镜实验室，北京100084) 亚点阵沿着晶体的c轴相互穿插形成的。以六角晶系来标定，其晶格常数为n，一。。= 报导还未见到。本文首次报导用透射电子显微术在原子尺度研究复合晶体硫化物Sr。。；TiS。晶 体中Sr原子和S原子相互调制的结果。 分辨电子显微术实验是在场发射透射电子显微镜JEM一3000F上进行的。 晶体的三次旋转轴从其基本位置位移一较大距离，沿c轴方向围绕着Ti原子螺旋分布，同时Sr 似‘“。 选区电子衍射和高分辨结构像给出无公度复合晶体硫化物Sr。。。TiS。的平均结构信息。图2 构像。箭头标出了单位晶胞中Ti原子及其周围S原子的位置。由于S原子在TiS。亚点阵中的螺 旋状分布，在高分辨像上体现为围绕Ti原子的类似环状的灰色衬度。白点对应于晶体结构中的 原子通道，被自点分割的黑点对应sr原子列的位置。以图1所示结构模型采用多层法得到的计 算像插入图2(b)中，实验像与计算像相吻合。 参考文献 M，KatoK。GotohYandOoawaY．Acta [1]Onoda Cryst．，1990，B(46)：487． MandKatoK．ActaCryst．，1990，B(47)：630． [Z]Onoda MandOnodaM．J．SolidStateChem．，1993，102：100． [3]saeki [4]OnodaM．SaekiM．YamamotoAandKatoK．ActaCryst．，1993，8(49)t929． 电子显微学报J．Chin．Eleetr．Microsc．Soc 486 17(5)l485～4861998年 [sJUkeiK，YamamotoA，WatanabeY，ShishidoTandFukudaT+AetaCryst．，1993，B(49)I67 ：》“ 1b 及计算模拟像。