热电参数测试仪、赛贝克、电阻率.pdf

热电参数测试系统（Namicro) ThermoelectricParameterTestSystem 薄膜材料物性分析领跑者 嘉仪通科技 嘉仪通科技成立于2009年，总部位于武汉市东湖开发区未来科技城，拥有研发及办公面 1100 多平方米，在北京、上海、成都建有办事处，并与当地科研院所合作建立了联合实验室。 嘉仪通科技是一家研发、生产和销售关于新材料、尤其是薄膜材料物性分析科学仪器的高新技 术企业，从而为客户新材料的研发及改进提供理论依据和实验平台。嘉仪通科技秉承技术创新、应 用为上的价值理念，遵循“穷理致用”的原则，踏踏实实、认认真真做好每一台科学仪器。嘉仪通科 技拥有一批海归研发团队，解决了纳米级薄膜材料物性分析的国际难题，并获得多项荣誉。 作为薄膜材料物性分析领跑者，嘉仪通科技已建立完善的薄膜材料物性分析科学仪器产品线： 相变温度分析仪（PCA） 热膨胀系数分析仪（TEA） 光功率热分析仪（OPA） 热电参数测试系统（Namicro） 薄膜热电参数测试系统（MRS） 薄膜热导率测试系统 （TCT） 薄膜热应力测试系统 （TST） 薄膜变温电阻测试仪（TRT） 薄膜磁性测试系统 （TMT） 霍尔效应测试系统（HET） 部分使用客户 清华大学 中科院金属所 中科院电工所 中科院上海微系统所 福建省特检院 华中科技大学 北京科技大学 武汉理工大学 安徽工业大学 武汉工程大学 西华大学 盐城工学院 QueenMaryofUniversityLondon,UK 1 薄膜材料物性分析领跑者 热电参数测试系统 （Namicro-III） 本仪器采用准动态法 （具有专利技术）和四探针法分别测量样品的seebeck系数和电阻率。不 仅可用于测量半导体块状样品，康铜、镍、铋等金属半金属样品，石墨、碳材料等非金属样品的 seebeck系数和电阻率，还可测薄膜（纳米）样品的seebeck系数和电阻率。 独特优势  拥有独立知识产权，获得多项技术专利；  动态法测量seebeck系数，避免了传统静态测量法在 温差测量方面的系统误差，测量更准确；  seebeck系数和电阻率测量不共用电压探针，避免出 现微型热电偶断裂失效的问题；  采用双向加热系统；  自动断电保护；  附有薄膜附件 （无需主机，直接使用），可直接测量 薄膜附件 薄膜材料常温下的seebeck系数和电阻率。 （测量常温seebeck系数和电阻率） 技术原理 动态测量法： 测试过程中给试样两段施加一微小的连续变化的温 差，测量样品两端热电势变化，温差∆T和热电势之间呈 线性关系，其斜率即为seebeck系数。 S=k(斜率)= ∆V/∆T 四探针法： 即四点接触法，电流的路径如右图所示，但测量电 压使用的是另外两个接触点。相比二探针法，四探针法 测量电阻率有个非常大的优点——不需要校准；有时用 其它方法测量电阻率时还用四探针法校准，因而测量精 度更高。