如何降低测试系统开关噪声.docVIP

如何降低测试系统开关噪声 为测试电子和机电器件设计开关系统所遇到的问题和设计产品本身一样多。随着器件中高速逻辑的出现以及与更灵敏模拟电路的连接，使得降低测试开关系统中的噪声比以前任何时候更加重要。 　　本文所述的噪声降低技术准则是针对信号频率低于300MHz、电压低于250V、电流小于5A和电压乘赫兹积小于107。 　　任何新式测试系统都用很多信号和电源线来仿真和测量DUT「待测器件」，并有各种各样的开关进行自动连接。通用测试系统结构示于图1。控制总线示于图中左边。模拟、数字和电源总线作为垂直线对示于不同子系统后面。 　　开关是整个系统的中心，互连很多测试点到测量仪器和路由信号、电源到DUT。几乎所有模拟和数字信号以及电源通过开关系统。 　　如果设计不注意，开关系统可能是测量误差之源。有时是莫明其妙的误差。其原因是简单的，很多的互连通常彼此紧靠着，这为噪声耦合提供足够的机会。每个噪声问题都有一个噪声源，以某种形式耦合到接收机，依次对噪声敏感。 　　解决噪声问题有3个步骤 必须识别噪声源； 必须确定接收点； 必须确定耦合方法。　　至于开关系统中的内部噪声源可由下列原因产生：驱动开关的电路，开关上的热不稳定性，来自系统中其他导体的耦合噪声和系统外部所产生的噪声。 　　来自邻通道的噪声耦合到测量通道，对信号完整性是一个威胁。耦合噪声的最重要的原因是电导耦合，共阻抗耦合以及