仪器,设备较正.docVIP

1. 目的 确定公司测量、试验设备及仪器之校验的方法、周期和精度等。 2. 范围 凡本公司之测量、试验设备及仪器均适用。 3. 职责 品管部仪校室负责﹐其它部门协助之。 4. 内容 4. 1测量、试验设备及工具的分类 4.1.1 根据本公司测量、试验设备及仪器的用途及检测要求，将其分为校准﹑校对和免 校三大类。 4.1.2 校对类﹕凡是为测量、试验产品之某种功能且对其测量、试验之结果并不要求具 体和确切的数字精度等类型的设备及工具(如﹕测试机等)﹔ 4.1.3 校准类﹕凡是在测量、试验后需要有具体和确切的数字精度的测量、试验设备及 工具(如﹕数显千分尺等)﹔ 4.1.4 免校类﹕凡对精确度要求不高或只用作参考之设备及工具(如3X放大镜等)﹔ 4.1.5 有些测量、试验设备及仪器虽然属校准类，但由于其使用场所及所检测项目要求 精度不高(如﹕玻璃温度计等)， 可以采取用经过校准的器具对其进行功能的方法 进行校对﹔ 4.1.6 公司需校准及校对的设备及仪器详见“仪器/设备校验清单”。 4.2测量、试验设备及仪器的校准﹕ 4.2.1 校准的部门或单位应是公司纳入合格分供方的国际/国家具备检测设备及工具校 准资格的机构﹔若公司内部具备校准条件(基准件、环境、有经验之人员)时，也 可自己公司进行校准； 4.2.2 校准周期﹕见“仪器/设备校验清单”﹐若在校准有效时间内，设备及仪器出现故障经维修后﹐则需重新校准后方可继续使用﹔ 4.2.43校准标识及记录﹕外校的设备及工具需在器具上或在其盛装物上贴上计量检定单位所发出的合格证﹔外校机构的监定证书需保留存盘﹔内校保存好内校记录；以备查验。 4.3测量、试验设备及工具的校对﹕ 4.3.1校对的部门或单位可以是公司纳入合格分供方的具备校对某种特定设备或工具资 格的外协单位，也可以是经培训考核合格后具备校对检测设备及工具有关技能的 公司内部人员﹔ 4.3.2 校对周期﹕根据各检测设备及仪器的情况具体而定﹔详见“仪器/设备校验清单”﹔ 4.3.3各类设备及工具之校对方法﹕ A．测试机的校对 校对基准件：外协单位设计程序软件 校对条件：室温下 校对方式：内校 校对内容及步骤： （1）系统自检功能测试﹔ （2）磁盘驱动器测试﹔ （3）测试电压测试﹔ （4）测试电流测试﹔ （5）绝缘电阻测试﹔ （6）导通电阻测试﹔ 以上项目测试均合格时，即可判定此台设备经校对合格。 B．二次元的校准 校准基准件：经外部校准之合格金相刻度尺 校准条件﹕常温﹑常湿 校准方式﹕内校 校准内容及步骤： （1）用二次元测量检验合格的金相刻度尺，比较测量结果与刻度标示。（5个以上） 两者所测试长度误差不超过10%为合格 C．读数显微镜的校准 校准基准件﹕二次元 校准条件﹕常温﹑常湿 校准方式﹕内校 校准内容及步骤： 二次元与读数显微镜同时测量同一物件，比较两者的读数值。（5个以上） 两者所测试长度误差不超过10%为合格。 D．千分尺的校准 校验基准件：量块 校准条件﹕常温﹑常湿 校准方式﹕外校 E．针规的校准﹕ 校准基准件：千分尺 校准条件：室温下 校准方式：内校 校准内容及步骤： （1）视针规有无折断﹑磨损情况﹔ （2）用千分尺测量针规测量部分2mm处﹐观察数据是否与针规标示值相符。 （3）若误差低于要求精度值﹐则判定合格﹐若大于要求精度值则判定为不合格。 F．游标卡尺的校准 校准基准件：千分尺 校准条件﹕常温﹑常湿 校准方式﹕内校 校准内容及步骤： 目视游标卡尺有无磨损情况﹔ 用千分尺和游标卡尺同时测量同一物体，比较两者的读数值。（5个以上） 两者所测的误差不超过10%为合格。 G．金相显微镜的校准 校准基准件﹕经外部校准之合格金相刻度尺 校准条件﹕常温﹑常湿 校准方式﹕内校 校准内容及步骤： （1）用金相显微镜测量检验合格的金相刻度尺，比较测量结果与刻度标示。（5个以上）两者所测试长度误差不超过10%为合格 H．红外线测温仪的校准 校准基准件﹕数字温湿度检测仪 校准条件﹕室温