c维护保养第6单元.docVIP

概述 在运行合作和控制样品前，你必须校准你的检验。 在尝试校准系统前，你必须熟悉你的系统的硬件配置，和软件用户界面的基本原理。参见使用或功能，第1－1页。 校准主题包括： 检验校准，第3页 提供校准方法和类型的描述说明，以及含有使用说明的校准命令屏幕的描述说明，来运行校准命令操作。 校准回顾，第19页 提供校准状态屏幕的描述说明和如何浏览校准曲线的使用说明。 备 注 检验校准 校准就是对已知难得的样品进行分析，记录仪器的反应值，并且对测量值背离已知难得进行作图，来创建评估未知浓度样品的曲线。 检验校准主题包括： 校准指南，第4页 校准取样规则，第5页 校准方法（光度计－c系统），第5页 校准方法（电位分析－c系统），第5页 校准方法（i系统），第6页 校准类型（c系统），第7页 校准类型（i系统），第11页 校准曲线贮存，第12页 校准命令屏幕，第13页 校准指南 在安装检验后，要求进行一个校准，你必须产生一条能起作用的校准曲线。你不需要在每次运行的时候都进行重新校准，然而，某些变量需要进行重新校准。 需要更多信息，参见： 强制检验校准，第4页 操作检验校准，第4页 备注：无论你什么时候校准检验时，建议你运行所有水平的合适质控品。 强制检验校准 你必须运行校准，当： 使用了一个新的试剂批次。 现存的检验文件的新版本伴随的文件描述要求进行校准。 要求进行校准的新检验文件进行了安装。 校准曲线有效期已满（c系统） 操作检验校准 你可能需要运行校准，当： 检验质控品值超出规格值。关于质量控制的具体信息，，参见试剂制造商具体检验文件（如试剂包说明书或试剂使用单）。 运行了某些系统维护/构件更换操作。 出现了某些错误。当出现了一个错误时，为确定是否需要进行重新校准，参见具体检验错误编码。 校准取样规则 当多个检验的试剂批次在系统上，并且校准命令的取样处理准备开始，系统使用以下规则，测定批次来进行校准： 如果检验的所有试剂批次没有一个现在能起作用的校准状态，系统校准所有批次。 如果检验的所有试剂批次有一个现在能起作用的校准状态，系统重新校准所有批次。 如果检验的某些试剂批次有一个现在能起作用的校准状态，而某些没有，系统仅对没有能起作用的校准的试剂批次进行校准。 校准方法（光度计－c系统） c系统校准方法是用于测量吸光率值和作出标准曲线图例或分离点值的方法。六个不同数学方法的一个用于校准结果： 吸光率方法（光度计－c系统），页码 附录C－3 因子方法（光度计－c系统），页码 附录C－4 线性方法（光度计－c系统），页码 附录C－5 仿样方法（光度计－c系统），页码 附录C－9 逻辑－4方法（光度计－c系统），页码 附录C－7 使用因子和空白方法（光度计－c系统），页码 附录C－11 c系统校准方法是具体检验并且定义于检验参数文件。你在配置检验参数窗口－校准－校准浏览（光度计－c系统）上，定义校准方法为非－雅培检验，页码2－163。 校准方法（电位分析－c系统） 电位分析校准方法是用于计算ICT检验（电解液）的方法。使用了八个血清或尿校准品。血清校准品是含有已知钠（Na+），钾（K+），和氯（CL-）浓度的基于蛋白质的材料。尿校准品是基于水并且跨越了较大浓度范围值。 对于电位分析方法，有三个构件： 电动势测量（电位分析－c系统）页码 附录C－12 斜率计算（电位分析－c系统）页码 附录C－13 样品测量（电位分析－c系统）页码 附录C－15 在ICT模式中，通过每个电极测量的mV（毫伏）数背离在校准品中已知的电解液浓度进行作图。校准斜率表达为理想斜率的百分率。在37摄氏度上进行电位的测定；因此，理想电极斜率为100 ％（62毫伏/十个一组）。 备注：电位分析校准方法是具体检验并且定义于检验参数文件。 校准方法（i系统） 校准校准方法是，通过ARCHITECT ? I系统，用于测量RLU（相对光单位）值和作出标准曲线图例或分离点值的数据简约方法。四个不同数学方法的一个用于校准结果： 点到点方法（i系统），页码 附录C－17 线性回归方法（i系统），页码 附录C－18 4PLC方法（i系统），页码 附录C－20 分离点检验方法（i系统），页码 附录C－23 i系统校准方法是具体检验并且定义于检验参数文件。你在检验参数窗口详细信息－校准浏览（i系统）上，浏览该方法，页码2－162。 关于数学方法的更多信息，参见i系统数据简约方法，页码 附录C－17。 校准类型（c系统） 校准类型仅适合光度计检验，并且指示校准曲线是否创建或调节。 两种校准类型可用： 完全校准，页码7，要求的 调节的校准，页码7，可选的 完全校准 完全校准是试剂空白和所有指定的数据点的测量，该数据点是背离已知浓度作图来创建用于评估未知样品的曲线的检验点。系统软件在校准上分