YB数字存储半导体管特性图示仪说明.docVIP

1、概述 YB4805 型数字存储半导体管特性图示仪(以下简称测试仪），是一种采用大屏幕液晶显示器显示半导体器件的各种特性曲线，并可用游标测量半导体各项静态参数的智能测试仪器。 YB4805 型数字存储半导体管特性图示仪与传统图示仪相比，它除了具有传统图示仪的功能和优点之外，它还具有如下特点： ① 微处理器控制，采用脉冲测试技术进行测试，测试速度快，被测件功耗小，测试安全。 ② 它取消了传统图示仪采用示波管显示特性曲线，而采用大屏幕液晶显示器显示半导体管的特性曲线，这样不仅使机器体积小，重量轻，使用方便，而且可靠性大大提高。而操作方法与传统图示仪完全一样。 ③ 中文菜单，传统操作模式。 ④ 具有光标读出功能。在光标模式下，可用游标读出被测件的各项静态参数。 ⑤ 在单管测试和对管测试时的测试图形可存储和读出。 ⑥ 仪器具备RS-232 通讯接口，可将测试图形通过RS-232 接口传送到计算机，实现测试图形的打印、对比和分析，并可保存到磁盘。 本仪器适应GB6587.1-86《电子测量仪器环境试验总纲》中的规定Ⅱ组环境，并属于GB4793《电子测量仪器安全要求》中规定的Ⅱ类安全仪器。 2、主要技术指标 2.1 YB4805 数字存储半导体管特性图示仪技术指标 2.1.1 集电极电源 集电极电源技术指标如表1所示。 式中：RD：测量读数值。FS：量程满度（挡级）值。 2.1.2 基极驱动电源 基极驱动电源技术指标如表2所示 2.1.3 集电极电压测量 集电极电压测量技术指标如表3所示 2.1.4 集电极电流测量 集电极电流测量技术指标如表4所示. 注1：设置和测量0～5μA 以下的小电流误差可能略有增加，最大不超过±(5％SET/RD+5％FS )。 2.1.5 二极管测量 二极管测量技术指标如表5所示 注2：设置和测量0～5μA 以下的小电流误差可能略有增加，最大不超过±(5％SET/RD+5％FS )。 3、测试对象 各种二极管、三极管、场效应管。 4、测试仪结构与组成 4.1 测试仪结构 YB4805/YB4850 型数字存储晶体管特性图示仪由源单元、数字测量与存储单元、控制和显示单元以及软件系统等基本部分组成，系统电原理结构框图如图一所示。 4.1.1电源单元 电源单元包括集电极扫描电压源、基极阶梯电流/电压驱动源、集电极和基极电流/电压控制开关、极性转换开关等测量电路，与传统模拟半导体管特性图示仪的结构相同。YB4805 还增加了如下单元。 ① 开关状态位读出电路。YB4805 的控制器必须识别测试仪面板上各个按键开关和波段开关的相应状态、位置，才能进行测量和数据处理，给出正确的测量结果。 ② 阶梯地址。阶梯地址作为电流、电压RAM 的高位写地址，将各级电流、电压测量数据写在各级RAM区，易于同步。 ③ 阶梯控制电路 为了实现连续阶梯电流，阶梯控制电路是必须设置的。YB4805 型的阶梯电流是连续电流。 ④ 同步信号 同步信号主要是阶梯触发脉冲和阶梯归零脉冲。阶梯触发脉冲初始化“点地址”发生器，开启可编程时钟输出电路。可编程时钟按照规定的时序启动电压/电流A/D 变换器、产生每级各点测量数据存储地址（点地址）、测量数据存储。阶梯回零脉冲标志一簇曲线测试完毕，在下一个阶梯触发脉冲的前沿结束测试，控制器根据结束标志信号，读取测量数据进行处理和显示。 4.1.2 测量/存储单元 测量/存储单元采用数字测量技术测量电压和电流,测量结果存储在本机RAM 中。测量/存储单元主要包括电压(X)/电流(Y)传感放大器、A/D 变换器、RAM、可编程时钟发生器、“点地址”发生器、地址转换器和控制部件等。测量启动以后，在时钟脉冲前沿,同时启动电压/电流A/D变换器,利用A/D变换器状态信号(该信号表示变换结束)触发单稳电路,产生宽度约为0.3 微秒的RAM 写脉冲，将本次测量结果写入RAM 单元。时钟脉冲后沿触发“点地址”发生器，产生下一次测量存储地址。在阶梯回零信号出现之前，就这样连续不断地测量和存储。完成一次测量存储约需1μS 时间，测量间隔要根据每级测量点确定，每级测量点涉及到液晶显示屏的规格。如果液晶显示瓶采用320×240 规格,每级测量点数为300 个，在集电极扫描电压周期为5mS 时，显然测量时间间隔约为15.67μS。 阶梯回零信号出现之后，仍需完成“0 阶梯”测量，直到下一个阶梯触发脉冲到达时，关闭时钟脉冲，停止测试。当控制器收到“停止测试”信号时，读取电压、电流测量结果，进行处理和显示。 测量过程在控制器控制下，由可编程时钟、阶梯触发脉冲、同步信号等统一完成。测量单元是由一下几个部分组成的： ① 电压(X)/电流(Y)传感放大器 电压(X)/电流(Y)传感放大器的第一级是高输入阻抗双跟随器，第二级为高精度差动放大器，将取