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粉体技术
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第 4卷第 2期 粉 体 技 术 V0f-4No.2
1998年 6月 PowderScienceandTechnology Jun,1998
粉体粒度测试方法评价
弭
王 丽 孙本双 王战宏 弋B
(西北稀有金属材料研究院开发处.石嘴山753000)
摘 要 介绍 了粉体粒度 的几种洲试方法,指 出了测试技术的发展建势 以及根据要求
确选择壮度测定
。
试一
关键词粉体 方法 筛c幺,星饼镜
粉体技术及其产品已越来越广泛地深入到人们的生活 中,从简单的餐用盘碟到先进的发
动机部件,它们的原料都是粉体,都由微细颗粒组成,而粉体颗粒特性对粉体技术工艺控制
和产品质量起着重要作用,因此,测试颗粒特性就成为保证产品质量的重要手段。粉末颗粒
的特性包括粒度、粒度分布、颗粒形状、孔隙度、z电势数值和比表面积等 其中粒度和粒度
的分布是最重要的特性。
科学技术的发展为粒度和粒度分布的测试提供了各种方法和仪器,而粒度黝试方法和仪
器的选择,要根据粉体粒度范围、材质、颗粒、形态 及测试 目的等不同要求而确定。目前
普遍采用的粉体粒度测试方法主要有筛分法、显微镜法、沉降法、电场感应区法和光学技术
测试法 。
1 筛分法
筛分法是最古老最简单的技术,具有成本低和适宜于大颗粒的优点,它是根据颗粒尺寸
的不同进行分选,然后称重,结果是质量对应筛同目数的分布 筛分不能区别样品的一些性
能,如密度和折射指数率。筛分最小可达 5m,没有尺寸上限,所得结果的重现性很差,难
于测量粘结及团聚的物料,并且测量时间越长,所得结果越小,因为颗粒是定向通过筛同的。
2 显微镜法
显微镜法具有直观性强的特点,是能直接观察到颗粒形状、大小的最好方法,利用这种
方法可以判断颗粒分散的程度,即是否存在团聚现象 ,而且检测费用较低。有些显微镜可以
通过相分析得出数值表 (通常到小数点6位或8位,远远超过原有的分辨率),但是,由于这
种方法只能检查到比较少的颗粒,有时不能反映整个样品的水平,因此不适用于质量和生产
拉制,而且若测量重量分布,误差会增大,因为错过或忽略一个lO~/m的颗粒就等于错过或忽
略 i000个 1m颗粒。
电子显微镜样品的制备很复杂,速度慢,检测范围小,重复性差,同一样品结果存在差
异,但却是最直观的。而 目前已出现的颗粒图像处理仪,将颗粒分布显示于计算机上,使颗
粒观察更为直观,并具有一定的统一性。
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40 粉 体 技 术 第 2期
3 沉降法 (X射线沉降仪)
x射线沉降仪测试的基本原理是根据斯托克斯定律方程即
琳糠 一 二&!塑
、一 18r/
式中 一一 颗粒的表观密度 ; 流体密度 ;D一一斯托克斯直径 ;g——重力加速度 ;
粘度 。
它是测试颗粒在液体中由于离L-力或重力作用而沉降的速率 由斯托克斯定律公式可以
看出沉降速率与颗粒直径成正比,颗粒越大,沉降速率越快。相对来说,x一射线沉降仪比激
光或比浊分析仪器更精确些,特别是适合分析一些粒度分布广的球形颗粒样品,但不适用于
分析颗粒粒度小于 2ptm的样品,因为对于小于2ptm的颗粒,存在两个相互制约的过程,重力
沉降和布朗运动。重力沉降和布朗运动的影响如附表
尉表 布朗运动和重力沉降位罄
颗粒直径 位移 /(gm,/s)
在空气中70T (大
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