X射线荧光光谱法测定釉料中主次痕量组份.pdfVIP

1—0043—02 标准与检测 文章编号：1001—9642(2006)1 X射线荧光光谱法测定釉料中主次痕量组份 李建英1，余荣台2，余祖发5 (1景德镇高等专科学校， 景德镇 553000； 55500 2江西景德镇陶瓷学院工程中心， 景德镇 1； 5景德镇陶瓷学院CCISN网站，景德镇 55；5001) X O 【摘 要】：采用熔融玻璃法，用A S型×射线荧 除去样品表面水份。 光光谱仪(帕纳科公司)测定釉料中Fe…O Na，O、MgO、 AI，O。、SiO，、P20。、K20、Ca0、MnO、NiO、Cu0、Zn0、ZrO，和 Pb0等组分含量。使用理论Ⅸ系数和经验系数法校正基 剂(本实验室样品与熔剂比例采用1：10的比例，样品 与熔剂的比例范围低至l：1，高至1：20，样品与熔剂 体效应，分析结果与化学法基本相符，除Na。0、MgO、Ca0 外，其余组分12次测定的相对标准偏差均小于10％。 的比例选择根据样品的难熔程度来确定，根据多次做 【关键词】：釉料，X射线荧光光谱仪，熔融法，理 样对比，本实验室采用1：10的比例)于铂黄金 论Ⅸ系数，基体效应校正 1 模一起放入熔样机中，在100℃熔融5min，自动摇动 5min，静止1min，然后将铂黄金坩埚内的熔融体手动 引言 10 倒入已加热至1 0℃的铸模内，用坩埚钳将铸模转移 釉料是伴随陶瓷科技的进步而产生的，陶瓷品质 至耐火平板上，待其冷却，剥离，贴上标签放于干燥 的好坏与釉料质量以及釉料与坯体的结合性好坏是分 器内。 不开的。现在应用于陶瓷生产釉料的种类很多，按类 1．3校准样品的选择与制备 别与用途可以大致分类：铅釉和无铅釉；生料釉与熔 块釉；一次烧成或二次烧成用釉；瓷砖，餐具，卫生 选取光谱纯元素氧化物作为标准样品，采用一定 陶瓷与电瓷用釉；按施釉方法划分为浸釉、喷釉、浇 的含量梯度建立校准曲线。各组分的含量范围列于表 釉；高温釉和低温釉；高膨胀釉和低膨胀釉；按烧成 l。 气氛划分为氧化焰、中性焰和还原焰釉；颜色釉与无 表1 校准样品中各元素的含量范围 色釉；透明釉与乳浊釉；光泽釉、无光釉、半无光釉 组分 0)B／10。 组分 (I)B／101 或花纹釉等等。如何掌控这些釉料质量，随时了解釉 Fe2030．018～100K200．024～50 料中各种组份的变化就显得十分重要，一传统的办法是 Na200．055～25CaO0．020～100