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一般工业技术
维普资讯
第6期 No.6
2oo7年 l2月 December 2oo7
密堆六方纳米材料微结构的
X射线衍射表征 :l:
蒲朝辉 , 杨传铮 。, 程利芳 , 钦 佩 , 娄豫皖 , 何丹农 , 李志林
(1.纳米技术及应用国家工程研究中心, 上海 200237)
(2.中国科学院上海微系统与信息技术研究所, 上海 200050)
№ 摘 要:提出分离密堆六方结构的纳米材料 x射线衍射花样 中微 晶一微应变、微 晶一层错、微应变一
层错二重和微 晶一微应变一层错三重宽化效应的一般理论、处理数据的最小二乘方法和计算程序。
纳.耋
并用于镍一氢 电正极材料原始 31一Ni(OH)和电池经活化、循环后的微结构的表征和研究。结果表
米吨 明,原始B—Ni(OH):仅存在微 晶一层错二重宽化效应,活化和循环后存在微 晶一应变一层错三重宽化
科 效应,并存在明显的选择宽化。把活化和循环后和原始B—Ni(OH)相比较可知,晶粒形状、大小、微
技_墓应变和层错几率都发生重大的和不可逆的变化。
关键词:纳米材料 ;0一Ni(OH);ZnO;XRD多重宽化效应
X-RayDiffractionCharacterizationoftheM icrostructurein
HexagonalCl0se—packedNanoM aterial
PUZhao-hui, YANG Chuan-zheng, CHENG Li-fang,
QINPei, L0UYu—wan, HEDan—nong, LIZhi—lin
(1.NationalEngineeringandResearchCenterforNanotechnology, Shanghai 200237, China)
f2.ShanghaiInstituteofMicro—system andInformationTechnology.ChineseAcademyofScience;
Shanghai 200050, China)
Abstract:Thegeneraltheory,leastsquaremethodsandcomputingprogramshavebeenproposedand developed,which
can separatethetwo—fold broadeningeffectcausedbycrystallite-microstrain,crystallite-stackingfaults,strain—faults
andwhich can also separate the threefold broadening effectcaused by crystallite-strain—faultsin closed parking
hexagonal (CPH)nano—materials.Themethodisappliedtocharacterizeandinvestigatethemicrostructurein31-Ni(OH)2
asanodematerialforMH—Nibattery.Theresultsindicatethatthereareonlytwo-foldbroadeningeffectofcrystallite—
faultsinraw31-Ni(OH)2,butthatthreefoldbroadeningeffecto
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