基于自反馈与LFSR的时序电路自测试的研究.pdfVIP

基于自反馈和LFSR 的时序电路自测试研究 郭苗苗，邝继顺 （湖南大学 信息科学与工程学院，长沙 410082 ） 摘要：由被测电路自己施加测试向量(TVAC) 的内建自 测试技术把被测电路视为一种可利用的资源，但因为 1、引言 使用多路开关、计数器、译码器等测试结构，硬件开 销较大。线性反馈移位寄存器(LFSR)作为伪随机测试 为了更好地完成对电路的测试，保证其可靠性， 生成器常用的硬件结构，具有结构简单、硬件开销小、 需要在设计电路时就考虑到测试问题。作为一种重要 易于控制和实现的优点。本文把时序电路测试结构中 的时序电路可测试设计，扫描设计将电路中的记忆元 的部分触发器连接为一个 LFSR ，由电路自反馈对 件(D 触发器)改造为扫描触发器(Scan Flip-Flop ，SFF)， LFSR 重播种，实现一种时序电路的自测试技术。本 当电路处于测试模式时，把所有的扫描触发器连接为 文针对 ISCAS ’89 基准电路进行相关实验，结果表明 一条扫描链，在芯片引脚处控制扫描链的输入和观测 本文方法能在达到相同故障覆盖率的情况下，有效减 扫描链的输出，从而达到控制和观测记忆元件的目的。 少测试硬件开销。 作为时序电路的一种BIST方法，循环自测试路径 关键词：测试生成；线性反馈移位寄存器；自测试； (Circular Self-Test Path, CSTP)技术把电路的原始输 入、原始输出以及部分内部寄存器改造为CSTP单元并 自反馈 [1] 串联起来，构成一个循环自测试路径 。由于有限循 环问题、生成的测试向量之间的相关性以及难测故障 Research on Self-testing Scheme for Sequential [2] 的存在，CSTP 的故障覆盖率并不理想 。针对这个问 Circuit Based on LFSR and Self-feedback 题，Touba提出结合状态跳变设计的CBIST(Circular BIST)方法，但是CBIST 的计算复杂度、面积开销都很 GUO Miaomiao, KUANG Jishun [3] 高 ；文献[4]提出的DCSTP(Deterministic CSTP) 在 CSTP 的基础上加入跳转逻辑，跳过一些不能检测任何 (College of Information Science and Engineering, 尚未检测的故障的测试向量。 Hunan University, Changsha, 410082 China) 文献 [5] 提出的 Test Vectors Applied by Abstract: Test Vectors Applied by Circuit-Under-Test Circuit-under-Test (TVAC) 自测试方法把被测电路视为 (TVAC