差电流轨迹法的研究.pdfVIP

维普资讯 第34卷 第9期 继 电器 RELAY VoI．34 No．9 2006年5月 1日 Mayl，2006 73 差电流轨迹扫描法的研究 毛乃虎 ，汪思满，陈亚强，刘赣宁 (国电南京 自动化股份有限公司，江苏南京211100) 摘要：针对母线区外故障cT严重饱和时母差容易动作和 区外故障转区内故障时存在流出电流而使得差动 电流偏小母差不易动作的问题，一般微机母线保护对这两种情况反应不够灵敏。对SGB750数字式母线保护 装置中采用的抗cT饱和新原理——差电流轨迹扫描法进行了探讨。该原理抓住故障cT传变特性，快速有 效判断出系统所发生的故障类型，判据准确可靠。 关键词：母线保护； 抗CT饱和； 差电流轨迹