全自动晶圆划切设备之可靠性分析.pdfVIP

全自动晶圆划切设备之可靠性分析.pdf

  1. 1、本文档共4页,可阅读全部内容。
  2. 2、原创力文档(book118)网站文档一经付费(服务费),不意味着购买了该文档的版权,仅供个人/单位学习、研究之用,不得用于商业用途,未经授权,严禁复制、发行、汇编、翻译或者网络传播等,侵权必究。
  3. 3、本站所有内容均由合作方或网友上传,本站不对文档的完整性、权威性及其观点立场正确性做任何保证或承诺!文档内容仅供研究参考,付费前请自行鉴别。如您付费,意味着您自己接受本站规则且自行承担风险,本站不退款、不进行额外附加服务;查看《如何避免下载的几个坑》。如果您已付费下载过本站文档,您可以点击 这里二次下载
  4. 4、如文档侵犯商业秘密、侵犯著作权、侵犯人身权等,请点击“版权申诉”(推荐),也可以打举报电话:400-050-0827(电话支持时间:9:00-18:30)。
  5. 5、该文档为VIP文档,如果想要下载,成为VIP会员后,下载免费。
  6. 6、成为VIP后,下载本文档将扣除1次下载权益。下载后,不支持退款、换文档。如有疑问请联系我们
  7. 7、成为VIP后,您将拥有八大权益,权益包括:VIP文档下载权益、阅读免打扰、文档格式转换、高级专利检索、专属身份标志、高级客服、多端互通、版权登记。
  8. 8、VIP文档为合作方或网友上传,每下载1次, 网站将根据用户上传文档的质量评分、类型等,对文档贡献者给予高额补贴、流量扶持。如果你也想贡献VIP文档。上传文档
查看更多
全自动晶圆划切设备之可靠性分析,晶圆划片机,晶圆划片刀,晶圆划片,晶圆划片刀市场分析,半导体晶圆划片机,晶圆划片刀价格,晶圆清洗设备,柴油大切可靠性,晶圆检测设备

- 电 子 工 业 毫 用 设 备 半导体材料加工与设备 全 自动晶圆划切设备之可靠性分析 张 伟 ,王宏智,闰启亮 (北京中电科电子装备有 限公司,北京 101601) 摘 要:介绍了半导体全 自动晶圆划切设备的总体结构和功能以及提高可靠性的一些方法,通 过采用这些方法,将整体系统 内各部分彼此的关系用图示表现 ,进而以表示 出来的关系计算 出可 靠性。 关键词 :全 自动;晶圆;可靠性 中图分类号 :TN305 文献标识码 :A 文章编号 :1004—4507(2011)09—0021—04 ReliabilityofW aferAutomatedDicingM achine ZHANGWei,WANGHongzhi,YanQilang (BeijingZhongdiankeElectronicandEquipmentCo.Ltd,Beijing101601,China) Abstract:Thepaperisfocused on thereliabilityofwaferautomated dicingmachine,thework introducestheconfigurationandfunctionofwaferautomateddicingmachine,andintroducessome methodsofreliabiliyt,byusingthesemethods,thiswork relatescomponentsinthewholesystem usinggraphs,reliabiliyt iscalculatedbytherelationofthecomponents. Keywords:Automation;W afer;Reliability 全 自动晶圆划片机是集光机 电计算机于一体 个集成 电路制造过程 中最关键和最危险的工艺环 的复杂设备,划片工序是将集成电路整片晶圆通 节,使得其对设备晶圆划片机 的可靠性要求达到 过划切分割成单个芯粒 的工艺过程 ,是集成 电路 了极致 ,不仅要从 晶圆上片、对准 、划切 、清洗甩干 制造过程 中整片晶圆操作的最后一道工序 ,承载 到下片的完全 自动化 ,而且整个过程几乎不容 出 了包括晶圆减薄以及材料制备、光刻等几百个前 现任何失误 ,其可靠性要求达到 了工业化设备 的 道工序 的材料和制造成本,一旦出现 问题,整个投 最高层级,业 内只要提到划片机首先关心的问题 入就会前功尽弃。同时,划片工艺又是一种无法恢 就是其可靠性如何。因此,可靠性对全 自动划片机 复的不可逆过程,一旦出现 问题整片晶圆就可能 来说具有极其特殊的意义,是其进入生产线的决 全部报废 。因此,材料和制造成本的积累以及工艺 定性因素,极高等级的可靠性是划片机进入生产 的不可重复性决定了划片工艺成为封装、甚至整 线的首要条件 。 收稿 日期 :2011-08.22 基金项 目:匡l家 02重大专项课题 (2o09zx02010—17) 半导体材料加工与设备 电 子 工 业 专 用 设 蕾 ● 在此动机之下,目的就是在建立一个测试标准、程 运行条件下,且于一个特定时间内操作正常的几 序或其它的依据 ,提供一个失效标准 以做参考 :首 率,以此定义就相对可知故障几率,可了解到系统 先假设系统下的子系统及其子系统下的元件 皆为 何时无法正常操作,同样对于该条件 的处理,我们 各 自独立的个体,开始运作在 同一时间内,计算出 必须明确系统所受的负担及系统操作所在 的条件 故障的几率 ,求 出整体系统 的可靠性 ,最

您可能关注的文档

文档评论(0)

docinpfd + 关注
实名认证
文档贡献者

该用户很懒,什么也没介绍

版权声明书
用户编号:5212202040000002

1亿VIP精品文档

相关文档