光纤损耗测量仪器的新发展——微型光纤光谱仪测量光纤损耗方法简介.pdfVIP

光纤衰减测量仪器的新发展 ——微型光纤光谱仪测量光纤衰减方法简介 一．光纤衰减测试方法介绍： 光纤传输过程中,光信号沿光纤传输时,光功率的损耗叫做光纤的衰减.光纤损耗是光纤 的一个主要传输参数, 由于光纤有衰减,光纤中光功率随着距离是按指数规律减小的.光 纤衰减测量的方法有多种,最主要的几种测量方法是截断法、插入法和后向散射法. 其中截断法是最基本也是测量最准确的方法，使用的仪器也最简单，但由于需要破坏 光纤，因而不能在现场测试中使用。光纤的衰减系数是一个与长度无关但与波长有关 的参数。 P 10lo g( 1 P ) A(λ) 2 L 插入法是先在光源与检测器之间连接一根短光纤，测量输出功率，然后在光源和短光 纤之间插入待测光纤，再测量输出功率，从而计算出待测光纤的光纤衰减。插入损耗 法的测量精确度和重复性要受到耦合接头的精确度和重复性的影响，所以这种测试方 法不如切断法的精确度高．但因此法是非破坏性的，测量简单方便，故适合在现场使 用。 背向散射法是将大功率的窄脉冲注入被测光纤，然后在同一端检测沿光纤背向返 回的散射光功率。利用这种方法做成的测量仪器，叫做光时域反射计(Optical Time—Domain Reflectometer)，简称OTDR。由于被测光纤存在接头或缺陷时各段背 向散射系数不同，测得的衰减是不准确的，可能产生很大的偏差。因而只适用于均匀、 连续、无接头和缺陷的光纤的衰减率测量。 二．测量光纤衰减的仪器简介： 传统的测量光纤衰减的仪器抛开光时域反射计不算，主要有两种方式实现测量： 一种是采用窄带光源、光纤接头连接器和光功率计（单象元光电探测器）组成， 所测量的波长和带宽主要由窄带光源决定，一般选用FP激光或LED作为光源。因为要 测量不同波长的光纤衰减需要多次更换不同的光源，操作比较复杂，因而一般选用某 种制定波长的光源，只能测量单一波长的光纤衰减。 另一种是采用宽光谱光源、光纤接头连接器、单色仪和光功率计（单象元光电探 测器），如下图： 这种仪器组合通过单色仪扫描，可以实现宽光谱范围内所有波长光纤损耗的测量； 但因为单色仪扫描耗时较长，并且因为采用机械转动光栅的方式扫描，波长重复性不 高；又因为光路搭建比较复杂，所以仍然不是最佳的测量配置，需要进一步改进。 二．微型光纤光谱仪测量光纤衰减方法简介： 图1 光学平台设计 图2 微型光谱仪 微型光纤光谱仪因为选用易于耦合的光纤来测量和传导光信号，可以很方便的将 光源、采样附件、光纤和光谱仪组合成测量系统。特别是由于采用多种标准的光纤接 口，使得微型光纤光谱仪对于光纤损耗衰减的测量具有得天独厚的优势： 1．光谱范围宽200～1100nm，可扩展至1700nm、2100nm 和2500nm ； 2 ．测量速度快，毫秒量级/每次采样，并可以通过多次平均来提高信噪比； 3 ．波长重复性好，采用一次性色散的平面光栅和线阵 CCD，整个光谱仪内部没有转 动器件，因此具有很高的波长重复性。 下面我们来介绍一下进行光纤衰减测量仪器及实验步骤： 一．测量仪器： 荷兰 Avantes 公司的AvaSpec-2048x14 型背照式 CCD 光谱仪、AvaLight-HAL 卤钨灯光源、标准光纤、待测光纤及光纤法兰盘。 二．实验步骤： 我们以常用的插入法测量光纤衰减为例： 第一步，测量参考光谱；使用一根标准光纤，分别接光源和光谱仪，打开光源， 测量并保存光谱强度作为P1(λ) ； 第二步，将长度L的待测光纤通过光纤法兰盘接入光路，一端接标准光纤，另一端 接光谱仪，测量并保存光谱强度作为P2(λ) ； P 10lo g( 1 P ) 第三步，进行数据处理；将两次测量的光谱强度带入计算公式A(λ) 2 ，