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Company Logo L o g o L o g o 数字集成电路测试技术 参考书目： 《最新集成电路测试技术》 高成 张栋 王香芬 编著 《集成电路测试技术基础》 姜岩峰 张晓波 杨兵 编著 数字集成电路测试原理 器件测试的主要目的是保证器件在恶劣的环境条件下能完全实现设计规格书所规定的功能及性能指标。 用来完成这一功能的自动测试设备是由计算机控制的。因此，测试工程师必须对计算机科学编程和操作系统有详细的认识。测试工程师必须清楚了解测试设备与器件之间的接口，懂得怎样模拟器件将来的电操作环境，这样器件被测试的条件类似于将来应用的环境。  器件测试的关键目的就是帮助降低器件的生产成本。甚至在优化的条件下，测试成本有时能占到器件总体成本的40%左右。良品率和测试时间必须达到一个平衡， 以取得最好的成本效率。 数字集成电路测试原理 数字集成电路测试原理图如下： 被测器件 （DUT） 输入 输出 测试向量 输出向量 测试图形1 0100X… HLXLH… … 10X10…