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ICT测试原理 制作：郑业 目 录 一、ICT功能与应用 ICT英文全称： IN CIRCUIT TESTER 一、ICT功能与应用 功能和作用 : 视产品的种类和复杂程度，常用的检测方式有： 二、 ICT设备介绍 1、目前在电子行业中常见的ICT设备有： 2、设备组成： 基本上由气压装置、电脑、测试台、系统主机、打印机、治具等组成。 三、ICT测试原理 1、隔离原理： 2、电阻测试： （3）相位测量法： 3、电容测试： （1）交流定电压法测量： （2）直流定电流量测法： 电容值在3UF以上时使用此法。 用DC定电流使待测电容充电，由充电 时间算出电容值。 （1）低压测试： 加一定电压到零件两端，测量零件 两端的压降。 测电容极性、二极管、IC均可采用 此法 此法最高电压是10V （2）高压测试： 可用于进行功能测试。 5、IC的测试 （1）IC CLAMPING DIODE 测试 以IC的每只脚对该IC的VCC PIN或GND PIN 为两端点进行低压功能测试