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第 期 电 子 学 报 ll Vol . 33 No . ll 年 月 2005 ll ACTA ELECTRONICA SINICA Nov . 2005 应用混合游程编码的SOC 测试数据压缩方法 方建平，郝 跃，刘红侠，李 康 （西安电子科技大学微电子学院宽禁带半导体材料与器件重点实验室，陕西西安 7 l007 l） 摘 要： 本文提出了一种有效的基于游程编码的测试数据压缩 解压缩的算法：混合游程编码，它具有压缩率高 / 和相应解码电路硬件开销小的突出特点 另外，由于编码算法的压缩率和测试数据中不确定位的填充策略有很大的关 . 系，所以为了进一步提高测试压缩编码效率，本文还提出一种不确定位的迭代排序填充算法 理论分析和对部分 . IS- CAS 89 benchmark 电路的实验结果证明了混合游程编码和迭代排序填充算法的有效性. 关键词： 测试数据压缩；不确定位填充； （ ）测试；混合游程编码 system-on-a chip SOC 中图分类号： 文献标识码： 文章编号： （ ） TP39l.76 A 0372-2ll2 2005 ll- l973-05 A Hybrid Run-length Coding for Soc Test Data Compression ， ， ， FANG Jian-ping HAO Yue LIU Hong-xia LI Kang （ Key lab of ministry of education f or wide Band - Gap Semiconductor Materials and ， ， ’ ， ， ） Deuices School of Microelectronic Xidian Uniuersity Xi an Shaanxi 7 l007 l China Abstrac