GB 17421.4 数控机床的圆检验.pdfVIP

GB/T17421.4-2003/ISO230-4:1996 前 言 GB/T17421机《床检验通则》分为如下几个部分: — 第1部分:在无负荷或精加工条件下机床的几何精度; — 第2部分:数控轴线的定位精度和重复定位精度的确定; — 第3部分:热效应的评定; — 第4部分:数控机床的圆检验; — 第S部分:噪声辐射的评定; — 第6部分:对角线位移检验。 本部分为GB/T17421的第4部分，等同ISO230-4:1996《机床检验通则 第4部分:数控机床的 圆检验))(英文版)。 为便于使用，对于ISO230-4:1996(英文版)，本部分还做了下列编辑性修改: — 按照GB/T1.1-2000的规定进行了编写，增加了“目次”和 “前言F，’ — “规范性引用文件”一章所列国家标准的名称后面标识了相应国际标准编号、一致性程度代号; — 原国际标准中“参考文献”为资料性附录D，按照GB/T1.1的规定改为附录A、附录B、附录C 后的一个要素; — 删除TISO230-4:1996的前言; — 将一些适用于国际标准的表述改为适用于我国标准的表述。 本部分的附录A,附录B,附录C为资料性附录。 本部分由中国机械工业联合会提出。 本部分由全国金属切削机床标准化技术委员会((SAC/TC22)归口。 本部分起草单位:北京机床研究所。 本部分主要起草人:徐光武、李祥文。 GB/T17421.4-2003/ISO230-4:1996 机床检验通则 第4部分:数控机床的圆检验 1 范围 GB/T17421的本部分规定了两线性轴线联动所产生的圆形轨迹的圆滞后、圆偏差及半径偏差的 检验和评定方法。有关的检验工具见GB/T17421.1-1998中的6.6.3说明。 本部分的目的是提供一种检验数控机床轮廓特性的方法。 2 规范性引用文件 下列文件中的条款通过GB/T17421的本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文件， 其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本部分，然而，鼓励根据本部分达成协议的 各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本部分。 GB/T17421.1-1998机床检验通则 第1部分:在无负荷或精加工条件下机床的几何精度(eqv ISO 230-1:1996) 3 术语和定义 下列术语和定义适用于GB/T17421的本部分。 3.1 名义轨迹 nominalpath 数控编程的圆形轨迹，它由直径(或半径)、圆心的位置及在机床工作区的方向来定义，既可以是一 个整圆也可以是一个不小于90。的部分圆。 3.2 实际轨迹 actualpath 按编程的名义轨迹运动时机床产生的轨迹。 3.3 圆滞后H circularhysteresisH 两实际轨迹的最大半径差，其中一个轨迹是顺时针轮廓运动，另一个是逆时针轮廓运动(见图1)e 注:评定基准是两个实际轨迹的最小二乘方圆的圆心 o.02mm + 两个实际轨迹的最小二乘方圆的圆心 0 起始点 ; 1— 实际轨迹，顺时针方向; 2— 实际轨迹，逆时针方向。 圆滞后，H-=0.008mm 图 1 圆滞后H的评定 GB/T17421.4-2003八SO230-4:1996 3.4 圆偏差G circulardeviationG 包容在实际轨迹上的两个同心圆(最小区域圆)的最小半径差，如图2所示，还可用最小二乘方圆的 最大半径范围来评定。 注1:圆偏差不包括安装误差，即检验工具的定心误差。 注2;圆偏差的测量不需要带标定长度的检验装置，而半径偏差需要。圆偏差G和半径偏差F之间的区别参照附