无损检测考试重点.docxVIP

什么是无损检测技术？ 无损检测以不损害被检验对象的使用性能为前提，应用多种物理原理和化学现象，对各种工程材料、零部件、结构件进行有效的检验和测试，借以评价它们的连续性、完整性、安全可靠性及某些物理性能。无损检测技术享有“工业卫士”的美誉. 无损检测的三个发展阶段 NDI（无损探伤）： 主要用于产品的最终检验，在不破坏产品的前提下，发现零部件中的缺陷，以满足工程设计中对零部件强度设计的需要。 NDT（无损检测）： 不但要进行最终产品的检验，还要测量加工过程工艺参数，诸如：温度、压力、密度、浓度、成分、组织结构、残余应力、晶粒大小。 NDE（无损评估）： 除了进行上述检验外，还要掌握使用材料的负载条件、环境条件等，综合评价材料完整性，判断材料及构件的性能和可靠性。 5、无损检测方法的基本特征 由外界的源向被检对象提供适当形式和分布的能量； 　当材料存在非连续性或其特性变化时，可使被检对象中能量分布作相应的改变； 　利用各种类型传感器提取表面或内部缺陷信号，并记录缺陷的影像或图像； 　解释记录原因和评价被检对象的使用可靠性。 射线法（X射线和中子射线照相法） 将X射线发生器发射的射线透照被检件，透射线被检测对象传递或衰减，用以成像检查内部结构或缺陷。 来自反应堆、加速器或同位素源的中子束照射被检件时，可用图像显示被检件的中子透射或衰减，或用来发现X射线不能检出的内部结构或缺陷。 超声法 超声脉冲直接射入被检件，超声回波（透射衰减）能指出缺陷、界面和不连续性的存在和位置。 磁粉法 将被检件或被检区域磁化，施加磁粉使覆盖整个表面区域，当任一处的表面或近表面缺陷导致磁场畸变而泄漏时，相应的畸变泄漏的磁场便吸附积聚磁粉。 　声发射法 利用物体内部缺陷在外力或残余应力作用下，本身能动地发射出声波来判断发射地点的部位和状态。 根据声发射信号的特点和AE波的外部条件，既可以了解缺陷的目前状态，也能了解缺陷的形成过程和发展趋势，这是其它无损检测诊断方法难以做到的。 渗透法 　　将渗透液覆盖于检测表面，使其渗入表面裂纹，然后清除表面上的多余液体，再施加显像剂。使其成为薄的粉层将裂纹中的液体吸出，使其着色，从而将其检出。 　涡流法 被检件局部感应交流回路（涡流），由探头测量感应电流磁场的感抗反应，指示次表面缺陷。 2、射线的种类 　 波长较短的电磁波叫射线。速度高、能量大的粒子流也叫射线。 射线由射线源向四周发射的过程又称为辐射。 　 非电离辐射：指能量很低，不足以引起物质发生电离的射线，如微波辐射、红外线等。 　 电离辐射：指能够直接或间接引起物质电离的辐射。 直接电离辐射：如β射线、α射线和质子射线等。由于它们带有电荷，所以在与物质发生作用时，要受原子的库仑场的作用而发生偏转。同时，会以物质中原子激发、电离方式损失其能量，故其穿透本领较差，因而一般不直接利用这类射线进行无损检测。 间接电离辐射：是不带电的粒子，如X射线、r射线及中子射线等。由于它们属于电中性，不会受到库仑场的影响而发生偏转，且贯穿物质的本领强，故广泛地被用于无损检测。 实验表明，X射线管阳极靶发射出的X射线分为两类：连续X射线谱和特征X射线谱。 电子在光的作用下从金属表面发射出来的现象，称为光电效应。 阴极K和阳极A封闭在真空管内，在两级之间加一可变电压，用以加速或阻碍释放出来的电子。在光的作用下，电子从电极K逸出，并受电场加速而形成电流，这种电流称为光电流。 俄歇效应产生的原理： 原子中的内电子被电离后出现一个空位，这时较外层的电子将填补空位而释放出能量，该能量以产生辐射的形式被释放出来。存在这样一种可能，即所释放的能量立即被原子内部较外层的一个电子吸收，再产生一个光电子，相对于第一个光电子，它就是次级光电子，或称为俄歇电子。这种现象就是俄歇现象，也称次级光电效应。 当一束能量较大的光子进入原子核的库仑场时，光子可以被全部吸收，而同时发射一对正负电子，这种现象称为电子对效应。 康普顿效应现象规律： 1、X射线散射后的波长与入射线的波长不等，波长增加； 2、波长改变的数值与散射角有关，随角度增加而增加； 3、随着散射角的增大，新谱线增强，原谱线减弱； 4、新谱线波长的移动与散射物性质无关； 5、当散射物的原子序数增加时，原谱线的强度增加，移动的新谱线的强度减弱，即康普顿效应减弱。 光电效应：原子电离，发出光电子 俄歇效应：受激原子回到正常状态发射二次光电子 荧光效应：由光子激发出的特征X射线，称为二次特征X射线或荧光X射线 电子对效应：X射线与核场相互作用，一部分能量转变为一个电子和一个正电子的静止质量 什么叫电子对效应？ 当一束能量较大的光子进入原子核的