数字电子技术基础 作者 潘明 潘松 第6章.pptVIP

* * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * Q 实 验 6-4．验证集成触发器的逻辑功能及相互转换的方法 测试内容： (1) 选用TTL器件双D触发器74LS74，其结构图见图6-10。将D触发器的D、CLK、CLRN、PRN端分别接SW1~SW4，输出端Q接LED显示。验证D触发器的置位功能、复位功能、同步触发功能。 (2) 选用TTL器件双JK触发器74LS76，其结构图见图6-19。将JK触发器的J、K、CLRN、PRN端分别接SW1~SW4，输出端Q接LED显示。验证JK触发器的置位、复位、保持和翻转功能。 (3) 参照图6-29，将JK触发器转换成D触发器，并验证其功能。 (4) 参照图6-26，将D触发器转换成JK触发器，并验证其功能。 (5) 参照图6-27和图6-27，将D触发器分别转换成T触发器和T’触发器，并验证其功能。 (6) 将两个触发器连接起来，用示波器观察记录D触发器的输出波形1Q、2Q及CP波形，理解二分频和四分频的概念。 思考题. 用双D触发器设计构成三分频电路，观察和记录CP、1Q和2Q的波形。 * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * Q