压力检测仪表.ppt

* 过程参数测量仪表 * 1.应变式压力传感器 组成：应变元件与弹性元件配用 应变元件的工作原理：导体和半导体的“应变效应”（strain effect）。 三、压力传感器 定义：能够检测压力值并能提供远传信号的装置。 结构形式：应变式、压阻式、电容式、压电式、光电式、光纤式等许多种。 应变效应：即导体和半导体材料发生机械变形时，其电阻值将发生变化。实际的电阻应变片是一根电阻丝被弯曲而并行地排成栅形，贴在基板上成为电阻栅。 * 过程参数测量仪表 * 2.压阻(piezo-resistance)式压力传感器 原理：基于半导体的“压阻效应”-当半导体的某一轴向受外力作用时，原子点阵排列规律发生变化导致载流子迁移率及浓度的变化，从而引起电阻率的变化。 结构：用集成工艺直接在硅平膜片上按照一定晶向制成扩散压敏电阻。 工作原理：硅平膜片在微小变形时有良好的弹性特性，当硅片受压后，它的变形使扩散电阻的阻值发生变化。其相对电阻变化可表示为： 式中πe为压阻系数，σ为应力。 * 过程参数测量仪表 * 3.电容(capacitance)式压力传感器 测量原理：将弹性元件的位移转换为电容量的变化。 结构：图为一种两室结构。 对于差动平板电容器，其电容与板间距变化的关系可表示为： 特点:此电容量的变化经过适当的转换电路，可以输出标准信号（4～20mA）。这种传感器结构坚实，灵敏度高，过载能力大；精度高，其精确度可达±0.25%～ ±0.05%；可以测量压力和差压，仪表测量范围0～0.00001MPa至0～70MPa。 * 过程参数测量仪表 * 电容式差压变送器 高压侧进气口 低压侧进气口 电子线路位置 内部不锈钢膜片的位置 * 过程参数测量仪表 * 电容式差压变送器内部结构 1—高压侧进气口 2—低压侧进气口 3—过滤片 4—空腔 5—柔性不锈钢波纹隔离膜片 6—导压硅油 7— 凹形玻璃圆片 8—镀金凹形电极 9—弹性平膜片 10—? 腔 * 过程参数测量仪表 * 5.压电(piezoelectricity)式压力传感器 工作原理：压电材料（石英、压电陶瓷、钛酸钡）的压电效应将被测压力转换为电信号的。它是动态压力检测中常用的传感器，不适宜测量缓变化的压力和静态压力。 压电效应：压电材料（具有压电效应的材料）受到外力作用时，不仅几何尺寸发生变化，而且内部极化，表面上还会有电荷出现，形成电场；当外力去除后，材料回复到原来的状态的现象。在弹性范围内，压电元件产生的电荷量与作用力之间呈现线性关系。电荷输出为：q=kSp 式中， q为电荷量；k为压电常数；S为作用面积； p为压力。通过测电荷量可知被测压力大小。 * 过程参数测量仪表 * 结构：如图 电荷量经放大可转为电压或电流输出。 测量一般配有电荷放大器，以增加输出。 可通过更改压电元件改变测量范围。 可以通过叠加压电元件以提高灵敏度。 特点:可作动态测量，不适合 于静压力和慢变化的压力的测 量,体积小，结构简单，工作可 靠；频率响应高，不需外加电源；测量范围0～0.0007MPa至0～70MPa；测量精确度为±1%， ±0.2%， ±0.06%。但是其输出阻抗高，需要特殊信号传输导线。 * 过程参数测量仪表 * 6.集成式压力传感器 集成化传感器。如以压阻式压力传感器为基础的集成传感器可同时检测差压、静压和温度。(通过多路转换开关和模/数转换后由微处理器进行相应的处理和显示) * 过程参数测量仪表 * 3.3 测压仪表的使用及压力检测系统 一、测压仪表的使用 测量仪表的使用，包括选择合适的测压仪表及仪表的校验等方面。 1、测压仪表的选择 应满足生产过程的要求，需要了解被测介质情况、现场环境及生产过程对仪表的要求，如信号是否需要远传、控制、记录或报警等。 选择选择合适的仪表主要根据生产过程提出的要求，结合各类压力表的特点综合考虑。一般涉及类型、测量范围和测量精度等方面。 类型的选择 * 过程参数测量仪表 * （1）在测稳压时，最大被测压力不超过测量上限值的2/3； （2）在测脉动压力时，最大被测压力不超过上限值的1/2； （3）在测量高压时，最大被测压力不超过上限值的3/5。 （4）一般压力的最小值，应不低于被测量上限值的1/3。 根据被测压力的最大值和最小值计算出仪表的上下限后，要按压力仪表的标准系列选定量程。 我国压力仪表测量范围的标准系列是：-0.1～0.06、0.15kPa和0～1、1.6、2.5、4、6、10×10n kPa（n为整数）。 测量范围（量程主要由敏感元件决定） 根据被测压力的大小及在测量过程中被测压力变化的情况来选取，选取仪表量程要留有余地。 * 过程参数测量仪